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Tag芯片的功能验证平台的设计

作　者: 黄海蓉
导　师: 杨银堂
学　校: 西安电子科技大学
专　业: 微电子学与固体电子学
关键词: 射频识别阅读器数字标签 PLI DUV 功能验证
分类号: TN407
类　型: 硕士论文
年　份: 2009年
下　载: 63次
引　用: 4次
阅　读: 论文下载

内容摘要

随着IC设计规模的增加,功能验证的复杂程度越来越高,各种新的验证方法也层出不穷,如何根据不同的IC产品来选择适当的验证方法获取最大的工作效率,仍然是一个值得研究的课题。仿真验证作为传统的验证方法,目前仍然是主流的验证技术,也是本文采用的验证方法。本文的被验证对象是一个基于Verilog语言设计的符合EPC Gen2 UHF RFID接口协议的Tag芯片。本文完成了具有自检查功能的Tag芯片的功能验证平台。使用C/C++、Verilog、PLI作为验证平台的设计语言,采用C语言设计Reader模块、Tag模块、比较模块,而DUV和Testbench采用Verilog语言设计。设计两个PLI程序来实现C与Verilog语言之间的通信。最后用C程序把这些模块连接起来,完成了Tag芯片的功能验证平台的搭建。另外,论文讨论在软件Modelsim环境下PLI接口的配置问题,阐明验证平台的验证过程和应用方法。Tag芯片顺利通过验证平台的功能验证和后仿真,现已在流片中。

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