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基于OVM架构的EPA芯片验证的研究
作 者: 仇荔
导 师: 冯冬芹
学 校: 浙江大学
专 业: 控制科学与工程
关键词: 功能验证 OVM System Verilog EPA 事务级建模 验证平台
分类号: TN406
类 型: 硕士论文
年 份: 2012年
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内容摘要
本课题的研究对象是EPA(Ethernet for Plant Automation)芯片的功能验证,EPA芯片是一款自主研发的基于EPA国际标准的芯片,随着EPA国际标准被越来越多的工业自动化领域厂商使用,为了保证EPA芯片的性能,EPA芯片的功能验证具有重要的意义。由于传统验证方法验证效率低,可重用性差,无法满足EPA芯片验证的需求,本文为了解决EPA芯片的功能验证问题,提高验证的效率、完备性和可复用性,提出了一种新型的基于OVM(Open Verification Methodology)架构的验证方案。该验证方案包括基于OVM架构的验证平台,和以代码覆盖率和功能覆盖率相结合为验证结果检查机制,受约束随机激励和定向激励相结合为激励产生机制的验证策略。在分别对本文提出的验证平台和验证策略进行分析和阐述后,本论文以EPA芯片的重要子模块——MII接收模块为例,将该验证方案应用于MII接收模块的验证中,只用了15天的验证时间,便达到了100%功能覆盖率和95%代码覆盖率的验证结果。经实践证实,本文提出的验证方案比传统验证方法,提高了130%的验证效率,增强了50%的验证完备性,提升了验证平台的可复用性。
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全文目录
致谢 5-6 摘要 6-7 Abstract 7-8 目录 8-11 1. 绪论 11-21 1.1 研究背景及意义 11-13 1.2 芯片验证的定义、方法和发展历程 13-17 1.2.1 芯片验证的概念 13-14 1.2.2 芯片验证的主要方法 14-15 1.2.3 芯片验证的发展现状和发展趋势 15-17 1.3 EPA国际标准简介 17-18 1.4 课题的研究内容和论文结构安排 18-21 2. 基于OVM架构的EPA芯片验证平台 21-37 2.1 EPA芯片特点对验证平台的要求 21-23 2.1.1 EPA芯片整体结构 21-22 2.1.2 EPA芯片特点及对验证的要求 22-23 2.2 传统验证平台的缺陷和解决办法 23-25 2.2.1 传统验证平台无法适应EPA芯片验证的需要 23-24 2.2.2 传统验证平台的解决办法 24-25 2.3 基于OVM架构的层次化验证平台 25-32 2.3.1 选择OVM验证方法学的原因 25-27 2.3.2 基于OVM架构的EPA芯片验证平台结构 27-29 2.3.3 基于OVM架构的EPA验证组件 29-32 2.4 基于事务级建模(TLM) 32-35 2.4.1 事务流的生产 32-33 2.4.2 事务级传输端口 33-35 2.5 本章小结 35-37 3. 基于OVM架构的EPA芯片验证策略 37-47 3.1 EPA芯片验证计划 37-38 3.2 EPA芯片验证路线 38-41 3.3 基于OVM架构的EPA芯片验证策略 41-46 3.3.1 定向激励和受约束随机激励相结合的激励发生机制 41-44 3.3.2 代码覆盖率和功能覆盖率相结合的验证结果检查机制 44-46 3.4 本章小结 46-47 4. 基于OVM架构的EPA芯片验证方案的应用实践 47-77 4.1 MII接收模块分析和功能点提取 47-53 4.1.1 待测设计分析 47-49 4.1.2 MAC数据帧 49-51 4.1.3 待测模块验证功能点提取 51-53 4.2 验证平台的设计 53-67 4.2.1 事务 54-56 4.2.2 发生器 56 4.2.3 驱动器 56-60 4.2.4 监测器 60-63 4.2.5 记分板 63-64 4.2.6 代理 64-65 4.2.7 验证环境和测试用例 65-66 4.2.8 验证平台的工作过程 66-67 4.3 验证平台实施的软件工具 67-68 4.4 验证方案的实施过程和结果分析 68-75 4.4.1 初始测试用例设计 69 4.4.2 初始测试用例验证覆盖率统计 69-71 4.4.3 定向测试用例设计和约束条件修改 71-72 4.4.4 最终验证结果和覆盖率统计 72-75 4.4.5 验证结论 75 4.5 本章小结 75-77 5. 基于OVM架构的EPA芯片验证方案的评估 77-85 5.1 本文验证方案与传统验证方案的区别 77-78 5.2 基于OVM架构EPA芯片验证方案的性能评估 78-84 5.2.1 验证效率评估 78-80 5.2.2 验证完备性评估 80-82 5.2.3 验证平台复用性评估 82-84 5.3 本章小结 84-85 6. 总结与展望 85-87 6.1 工作总结 85 6.2 工作展望 85-87 参考文献 87-89 作者简历 89 攻读学位期间发表的论文和完成的工作 89
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中图分类: > 工业技术 > 无线电电子学、电信技术 > 微电子学、集成电路(IC) > 一般性问题 > 可靠性及例行试验
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