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数字集成电路测试仪软件设计

作　者: 路嘉川
导　师: 詹惠琴
学　校: 电子科技大学
专　业: 检测技术与自动化装置
关键词: 集成电路自动测试系统架构功能测试
分类号: TN431.2
类　型: 硕士论文
年　份: 2010年
下　载: 133次
引　用: 2次
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内容摘要

微电子技术与计算机技术相互促进,得到了飞速发展。如今,作为微电子技术的结晶——集成电路,已经成为现代信息社会发展的基石。集成电路的设计和制造水平已经成为一个国家技术发展水平的重要标志,其应用已经深入到科学、工业和农业的各个领域,遍布人类生活的每一个角落。集成电路测试作为设计验证和批量生产把关的重要环节,其重要性日趋凸显。并且随着集成电路的复杂度不断提高,芯片尺寸不断缩小、管脚越来越多,极大地提高了测试难度和测试费用。在这种情况下,手动测试已经不能满足大批量集成电路快速测试的要求,自动测试系统应运而生。本文主要介绍了一种具有测试精度较高、速度快、可靠性好、编程简单、成本低等特点的中、小规模的模拟/数字集成电路测试系统,并详细介绍了数字集成电路测试系统。该数字集成电路测试系统最多可以完成32管脚数字器件的测试,包括接触性测试、功能测试、直流参数测试和交流参数测试。数字测试系统有以下的特点:具有五个可选择的电流档位,并对输入有自动箝位功能,功能测试速度频率可达到10M,测试向量深度至多为1M。此外,本文还介绍了软件开发平台Visual C++6.0、数字测试系统的软件架构,以及各个测试模块的功能和项目测试流程。最后介绍了软件调试,指出了在调试过程中出现的问题和解决方法,并给出了数字集成电路测试系统在实验室、封装测试工厂进行测试的结果,对二者测试结果之间存在的差异进行了分析。

全文目录

摘要  4-5
ABSTRACT  5-8
第一章绪论  8-13
  1.1 引言  8-9
  1.2 课题选题依据  9
  1.3 国内外研究情况  9-11
    1.3.1 国外研究的发展和现状  9-10
    1.3.2 国内研究的发展和现状  10-11
  1.4 现阶段存在的问题及发展趋势  11
    1.4.1 现阶段存在的问题  11
    1.4.2 发展趋势  11
  1.5 本测试系统的特点  11
  1.6 本文的研究内容  11-13
第二章集成电路测试系统简介  13-26
  2.1 系统设计目标  13
  2.2 系统设计原则  13
  2.3 系统硬件构成  13-16
    2.3.1 系统硬件总体结构  13-15
    2.3.2 系统硬件测试能力  15-16
  2.4 系统总体软件简介  16-23
    2.4.1 软件总体设计  16-20
    2.4.2 软件开发平台  20-22
    2.4.3 数据库  22-23
  2.5 系统总体测试流程  23-24
  2.6 小结  24-26
第三章数字集成电路测试软件设计  26-66
  3.1 数字集成电路测试概述  26-28
    3.1.1 基本概念  26
    3.1.2 基本测试原理和测试要求  26-27
    3.1.3 输出响应测试方法  27-28
  3.2 数字集成电路测试顺序  28-29
  3.3 数字集成电路测试项目及原理  29-35
    3.3.1 接触性测试原理  29-30
    3.3.2 功能测试原理  30-32
    3.3.3 直流参数测试原理  32-35
  3.4 集成电路测试软件设计  35-65
    3.4.1 软件设计原则  35
    3.4.2 软件架构及功能简介  35-37
    3.4.3 软件主要模块构成及详细设计  37-64
    3.4.4 软件测试总体流程  64-65
  3.5 小结  65-66
第四章软件调试  66-70
  4.1 软件调试的目标和原则  66
  4.2 实验室软件调试  66-69
    4.2.1 软件调试步骤和方法  66-67
    4.2.2 软件调试遇到的问题及解决方法  67-69
    4.2.3 实验室软件调试结果  69
  4.3 现场调试结果  69-70
第五章总结与展望  70-72
致谢  72-73
参考文献  73-75
攻硕期间取得的研究成果  75-76

数字集成电路测试仪软件设计

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