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高介X7R电容器介质瓷料的研究

作　者: 范义源
导　师: 张树人
学　校: 电子科技大学
专　业: 材料学
关键词: X7R特性 高介低变化率陶瓷 钛酸钡中温烧结 壳－芯结构
分类号: TQ174
类　型: 硕士论文
年　份: 2002年
下　载: 233次
引　用: 5次
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内容摘要


本论文以钛酸钡为基，掺入Nb2O5-Co3O4形成“壳-芯”结构，其研究目的是弄清楚在空气中烧结条件下，改性添加剂固溶或偏析的作用机制和影响范围，寻求材料组成、工艺、微观结构和性能之间的因果关系。在基础配方体系上引入少量Y2O3，Dy2O3，CeO2，MnO2等添加剂，进一步改善瓷料的介电性能：介质损耗降低，介电峰展宽，并且具有较高的介电常数，使瓷料的容量温度特性满足X7R的要求。 本论文选用的配方系统对比参照了国内外最新研究报道成果，在此基础上发展出独特的配方体系，最终研制出介电常数ε25℃≥5000，绝缘电阻率ρ≥1010Ωcm，介电损耗角正切值tg δ≤1.5％，抗电强度Eb（V／mm）≥（8KV／mm）[DC]，Eb（V／mm）≥（3.6KV／mm）[AC]，容量温度特性满足X7R，即ΔC／C25℃（-55℃-+125℃）≤±15％的高介低变化率瓷料。 由于本论文研制的陶瓷配方在温度范围为1210℃-1230℃内烧成，室温介电常数达到5000，从而实现了中温烧结高介低变化率的X7R陶瓷电容器，其性能居于国内领先水平，达到了国际先进水平。该配方还在715厂投量试产，其性能也基本达到上述指标，为开拓拥有自主技术特征的新一代高技术陶瓷电容器产品奠定了基础。

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中图分类: > 工业技术 > 化学工业 > 硅酸盐工业 > 陶瓷工业
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