学位论文 > 优秀研究生学位论文题录展示

GaN厚膜HVPE生长工艺的研究

作 者: 张嵩
导 师: 杨瑞霞
学 校: 河北工业大学
专 业: 微电子学与固体电子学
关键词: 化合物半导 氮化镓 HVPE 蓝宝石衬底 激光剥离 GaAs衬底
分类号: TN304
类 型: 硕士论文
年 份: 2011年
下 载: 88次
引 用: 0次
阅 读: 论文下载
 

内容摘要


随着信息科技的发展,半导体技术的发展也很迅速,相应的半导体材料的研究也就显得十分的重要。宽禁带化合物半导体材料氮化镓拥有高的热导率和电子饱和速率,在制作微电子器件方面有很强的优势。本论文采用氢化物气相外延(HVPE)方法在蓝宝石衬底GaAs衬底上生长GaN。通过X射线衍射(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)、原子力显微镜(AFM)、PL谱和微分干涉显微镜(DIC)等方法对两种衬底生长的GaN质量进行研究。此外,本课题对激光剥离GaN与蓝宝石衬底也进行了较为深入的研究。选择Al2O3衬底生长GaN,对不同偏角的衬底外延生长的GaN表面形貌进行研究,发现0.2度的偏角可以使得外延层表面更加平坦。此外,适当的Ⅴ/Ⅲ和适量的载气可以提高GaN质量。实验结果表明,在4000ml/min的N2载气气氛、Ⅴ/Ⅲ为30的条件下,将会得到PL谱的半高宽较小,发光特性好,晶体质量高的GaN厚膜。选择GaAs衬底生长GaN,为了解决高温生长GaN时GaAs衬底分解的难题,文中采用低温通入NH3对衬底表面进行氮化,然后生长均匀性较好的缓冲层将GaAs衬底包裹住做保护。在这基础上高温生长GaN可以得到质量较高的GaN厚膜单晶。用紫外激光辐射GaN/Al2O3样品对GaN与衬底进行剥离。在调整了激光能量、光斑大小、系统温度以及激光扫描路线等工艺后,降低了对GaN基片的损伤并成功实现了GaN与蓝宝石衬底的分离。

全文目录


摘要  4-5
ABSTRACT  5-9
第一章 绪论  9-21
  §1-1 引言  9-10
  §1-2 GaN 材料的结构与性质  10-14
    1-2-1 GaN 的晶体结构  10-11
    1-2-2 GaN 的物理性质  11
    1-2-3 GaN 的化学性质  11-12
    1-2-4 GaN 的光学性质  12
    1-2-5 GaN 的电学性质  12-13
    1-2-6 GaN 的能带结构  13-14
  §1-3 GaN 材料的制备方法  14-17
    1-3-1 金属有机物化学汽相淀积(MOCVD)技术  14-15
    1-3-2 分子束外延(MBE)技术  15-16
    1-3-3 氨热法(Ammonothermal)  16-17
    1-3-4 氢化物气相外延(HVPE)技术  17
  §1-4 GaN 材料与器件的广泛应用前景  17-19
  §1-5 国内外研究现状  19-20
  §1-6 本文研究的主要内容  20-21
第二章 HVPE 系统与 GaN 材料的表征方法  21-28
  §2-1 HVPE 生长方法  21-23
    2-1-1 HVPE 的发展历史  21-22
    2-1-2 HVPE 系统结构及工作原理  22-23
  §2-2 半导体晶体测试技术  23-28
    2-2-1 X 射线衍射(XRD)  23-24
    2-2-2 扫描电子显微镜(SEM)  24-25
    2-2-3 原子力显微镜(AFM)  25-26
    2-2-4 光致发光谱(PL 谱)  26
    2-2-5 微分干涉显微镜(DIC)  26-28
第三章 蓝宝石衬底生长 GaN 工艺的研究  28-36
  §3-1 衬底偏角对晶体质量的影响  28-30
    3-1-1 实验  28
    3-1-2 结果与讨论  28-30
  §3-2 NH_3与HCl 流量对晶体质量的影响  30-32
    3-2-1 实验部分  30
    3-2-1 结果与讨论  30-32
  §3-3 载气对晶体质量的影响  32-35
    3-3-1 实验部分  32
    3-3-2 结果与讨论  32-35
  §3-4 本章小结  35-36
第四章 GaAs 衬底外延 GaN 的工艺研究  36-45
  §4-1 选择GaAs 衬底的优势  36-37
  §4-2 GaAs 衬底氮化的作用  37-41
    4-2-1 实验部分  37-38
    4-2-2 结果与讨论  38-41
  §4-3 生长中插入缓冲层的研究  41-44
    4-3-1 实验部分  41
    4-3-2 结果与讨论  41-44
  §4-4 本章小结  44-45
第五章 激光剥离技术的研究  45-53
  §5-1 激光剥离技术的基本原理  45-46
  §5-2 温度对剥离质量的影响  46-47
  §5-3 剥离过程中激光能量与光斑的控制  47-50
    5-3-1 激光输出能量  47-48
    5-3-2 光斑面积大小  48-49
    5-3-3 光斑重合度的影响  49-50
  §5-4 剥离过程中激光扫描路线的研究  50-51
    5-4-1 实验部分  50
    5-4-2 结果与讨论  50-51
  §5-5 本章小结  51-53
第六章 结论  53-54
参考文献  54-59
致谢  59-60
攻读学位期间所取得的相关科研成果  60

相似论文

  1. 基于ECR-PEMOCVD技术在蓝宝石衬底上高C轴择优的InN薄膜的制备及表征,TN304.055
  2. 衬底预处理对外延生长GaN薄膜性能的影响,TN304.054
  3. GaN薄膜的MOCVD制备法及其表征,TN304.055
  4. 垂直式HVPE系统制备GaN衬底材料的数值模拟研究,TP391.7
  5. 磷掺杂p型氧化锌薄膜的制备与性能研究,O484.1
  6. InGaN/GaN量子阱光致发光特性的测试与分析,O471.1
  7. 全息方法实现高外量子效率光子晶体LED,O438.1
  8. 外延NiO薄膜的结构及性能研究,O484
  9. GaN LED器件外延膜的激光剥离的研究,TN312.8
  10. GaN基垂直结构LED电镀铜衬底的研究,TN312.8
  11. 控制技术在GaN薄膜生长过程中的应用,TN304.055
  12. MOCVD方法在GaAs衬底上生长ZnO薄膜,O484.1
  13. MOCVD法生长ZnO及ZnO:N薄膜的性能研究,TN304
  14. GaN薄膜及纳米棒的制备和表征,TB383.1
  15. MOCVD法生长硅基六方相GaN薄膜及其性质研究,TB43
  16. MOCVD方法生长硅基GaN与Al_xGa_(1-x)N薄膜及其性能研究,TB43
  17. MOCVD方法硅基GaN的生长及其p型掺杂研究,TN304
  18. 蓝宝石衬底MOCVD横向外延过生长GaN薄膜的研究,O484
  19. 预处理与离子注入GaN外延材料的性能研究,TN304
  20. 半导体和氧化物表面石墨烯的生长和结构表征及锰掺杂碳化硅稀磁半导体研究,TN304

中图分类: > 工业技术 > 无线电电子学、电信技术 > 半导体技术 > 一般性问题 > 材料
© 2012 www.xueweilunwen.com