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衬底预处理对外延生长GaN薄膜性能的影响
作 者: 王敏
导 师: 刘彩池
学 校: 河北工业大学
专 业: 材料物理与化学
关键词: GaN MBE 蓝宝石衬底 AlGaN/GaN 二维电子气
分类号: TN304.054
类 型: 硕士论文
年 份: 2010年
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内容摘要
本文在经过预处理的蓝宝石、硅等衬底上,采用射频辅助等离子源分子束外延生长系统(RF-MBE)外延生长了GaN薄膜及AlGaN/GaN二维电子气材料,并对其进行了表征。本文通过对蓝宝石衬底的预处理发现,采用熔融KOH,290℃下腐蚀15 min、25 min时均可得到较好的腐蚀图像,腐蚀时间为15 min,不同腐蚀温度下腐蚀坑的密度会出现一个峰值;腐蚀过程中会出现腐蚀坑形貌从三角形向多角形的转变,并对其成因机理进行了分析,通过进一步观察分析,发现腐蚀坑的变化发展有联体、兼并、扩展等三种方式。在低温条件下利用ZnO作为缓冲层在蓝宝石、硅等衬底上外延了GaN薄膜,经过盐酸处理后,PL分析发现其具有较好的发光性能;采用蓝宝石为衬底,利用RF-MBE法在正常条件下外延GaN薄膜发现,富镓富氮匹配条件下所得到的GaN材料无论在晶体质量、表面形貌、光学属性、电学性能等方面均要优于在富氮条件下的GaN材料;富镓条件下,针对生长时间为20 min,30 min两种不同缓冲层厚度的GaN薄膜研究发现,缓冲层适当增厚可以获得更好的晶体质量,且GaN薄膜材料的表面平整度及粗糙度、外延层中的应力状况、电学性能等都会得到改善。本文对AlGaN/GaN二维电子气材料及成因机理进行了初步研究,所得到的二维电子气材料具有良好的晶体质量、光学性能等,室温下的最高电子迁移率为800 cm2/(V·s),二维电子气的面密度理论计算为1.14×1013 cm-2接近实验测量值,计算得到的自发极化强度数值为-0.04444 C/m2,压电极化强度数值为-0.0078 C/m2。
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全文目录
摘要 4-5 ABSTRACT 5-10 第一章 绪论 10-24 1.1 引言 10-11 1.2 GaN 材料的基本性质 11-14 1.2.1 GaN 的相态与结构 11-13 1.2.2 GaN 材料的化学性质 13 1.2.3 GaN 材料的电学性质 13-14 1.2.4 GaN 材料的光学性质 14 1.3 GaN 材料的制备工艺及发展 14-18 1.3.1 卤化物气相外延(HVPE)技术 15 1.3.2 金属有机化学气相沉积(MOCVD)技术 15 1.3.3 原子束外延(ALE)技术 15-16 1.3.4 分子束外延(MBE)技术 16 1.3.5 GaN 基材料生长面临的问题及研究进展 16-18 1.4 制备GaN 材料的衬底 18-19 1.4.1 蓝宝石衬底 18 1.4.2 ZnO 衬底 18 1.4.3 Si 衬底 18-19 1.4.4 AlN 衬底 19 1.4.5 GaN 衬底 19 1.4.6 SiC 衬底 19 1.4.7 其它衬底 19 1.5 GaN 薄膜的生长机理及影响因素 19-21 1.6 GaN 中的缺陷和杂质 21 1.7 GaN 材料的应用 21-23 1.7.1 GaN 基发光器件 21-22 1.7.2 GaN 基探测器 22 1.7.3 GaN 基微电子器件 22-23 1.8 本文主要研究工作 23-24 第二章 实验设备及测试技术 24-31 2.1 引言 24 2.2 分子束外延(MBE)概述 24-27 2.2.1 MBE 的发展 24-25 2.2.2 MBE 外延生长的原理 25 2.2.3 MBE 生长系统 25-27 2.2.4 MBE 外延生长的过程 27 2.3 材料表征技术 27-31 2.3.1 X 射线衍射(XRD) 27-28 2.3.2 扫描电子显微镜(SEM) 28 2.3.3 原子力显微镜(AFM) 28 2.3.4 拉曼散射光谱仪(Raman) 28-29 2.3.5 光致发光光谱(PL) 29 2.3.6 霍尔效应测试仪 29 2.3.7 傅里叶红外光谱仪(FTIR) 29-31 第三章 衬底材料的预处理 31-43 3.1 引言 31 3.2 蓝宝石衬底的腐蚀处理 31-40 3.2.1 蓝宝石的性质 31-32 3.2.2 蓝宝石衬底预处理腐蚀剂的选择 32-33 3.2.3 蓝宝石腐蚀温度及腐蚀时间的确定 33 3.2.4 蓝宝石衬底的预处理腐蚀工艺研究 33-40 3.3 衬底材料的缓冲层处理 40-41 3.3.1 蓝宝石衬底上ZnO 缓冲层的处理 40 3.3.2 Si 衬底上ZnO 缓冲层的处理 40-41 3.3.3 蓝宝石上AlN 缓冲层的生长 41 3.4 小结 41-43 第四章 GaN 材料的外延生长及性能研究 43-64 4.1 引言 43-44 4.2 低温GaN 薄膜的生长 44-49 4.2.1 低温GaN 薄膜生长方案 44 4.2.2 实验结果与分析 44-49 4.3 富氮条件下GaN 材料的外延生长 49-55 4.3.1 实验方案 51 4.3.2 结果与分析 51-55 4.4 富镓富氮匹配条件下GaN 材料的外延生长 55-59 4.4.1 实验方案 55-56 4.4.2 结果与分析 56-59 4.5 缓冲层生长厚度对GaN 外延生长的影响 59-63 4.5.1 富镓条件下GaN 材料的外延生长 59-60 4.5.2 缓冲层对外延层性能的影响 60-63 4.6 小结 63-64 第五章 GaN 材料二维电子气 AlGaN 的生长及性能研究 64-71 5.1 引言 64 5.2 GaN 材料二维电子气AlGaN 的生长 64-70 5.2.1 实验方案 64-65 5.2.2 结果与分析 65-70 5.3 小结 70-71 第六章 结论 71-72 参考文献 72-78 攻读学位期间所取得的相关科研成果 78-79 致谢 79
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中图分类: > 工业技术 > 无线电电子学、电信技术 > 半导体技术 > 一般性问题 > 材料 > 一般性问题 > 制取方法与设备 > 外延生长
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