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测试向量的自动生成及其功能验证环境

作　者: 王鑫
导　师: 郭炜；李翠超
学　校: 上海交通大学
专　业: 软件工程
关键词: 测试向量功能验证 feedback simulation
分类号: TP311.52
类　型: 硕士论文
年　份: 2007年
下　载: 176次
引　用: 2次
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内容摘要

目前,集成电路制造技术的发展日新月异,集成电路的设计方法不断更新。而随着IC设计自动化程度的提高,集成电路规模不断加大,保证芯片设计的正确性是每一个芯片设计工程师必须考虑的大事。由于芯片的验证和测试工作变得越来越复杂,而产品测试成本不断提高,产品上市时间压力越来越大,传统的功能测试向量生成方法已经很难满足要求。因此,如何快速产生准确的功能测试向量就成为降低产品测试成本和缩短产品上市时间的关键因素。本文从集成电路验证和测试相关理论入手,简要介绍了各种验证方法,测试设备以及测试分类,重点介绍了测试向量的种类、格式和生成方法。在此基础上,具体分析了输入激励的基本原则,并提出了一种新的功能验证环境,用于提高测试向量产生的效率和准确率,最终在实践中得到具体应用,从而达到了预期目的。

全文目录

摘要  6-7
ABSTRACT  7-12
1 前言  12-19
  1.1 集成电路技术的发展及现状  12-16
  1.2 测试向量应用技术现状  16-17
  1.3 课题内容和论文结构  17-19
2 集成电路验证基本方法  19-29
  2.1 验证的重要性  19-21
  2.2 集成电路设计和验证流程  21-22
  2.3 验证方法与技术  22-27
  2.4 验证方法的选用  27-29
3 集成电路测试  29-37
  3.1 测试设备  29-31
  3.2 测试分类  31-32
  3.3 测试向量的种类  32-35
  3.4 测试基本原理  35-37
4 功能测试向量的格式  37-47
  4.1 功能测试的必要性  37-38
  4.2 测试向量的格式分类  38-39
  4.3 VCD 文件格式  39-42
  4.4 ATE 测试向量  42-47
5 功能验证环境  47-57
  5.1 验证计划的制定  47-48
  5.2 测试激励  48-49
  5.3 自核对式测试平台  49-51
  5.4 测试向量的验证  51-52
  5.5 测试平台的构建  52-54
  5.6 测试向量的优化  54-55
  5.7 测试向量提交  55-56
  5.8 测试结果  56-57
6 结束语  57-59
  6.1 总结  57-58
  6.2 展望  58-59
参考文献  59-61
致谢  61-62
攻读学位期间发表的学术论文  62

测试向量的自动生成及其功能验证环境

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