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双通道高频锁相环路测试方法的研究

作　者: 王达
导　师: 杨莲兴
学　校: 复旦大学
专　业: 电子与通信工程
关键词: 双通道高频锁相环路测试方法研究
分类号: TN911.8
类　型: 硕士论文
年　份: 2009年
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内容摘要

锁相环路因其独特的优良性能而得以广泛应用,利用其具有的高稳定频率振荡、监测、跟踪和控制等特性,可制成高性能的频率合成、精密振荡、调制解调等频率产生和控制电路。目前发展迅速的集成锁相环路由于其成本低、性能好、使用方便、应用广泛,已成为电子工程中经常使用的一种多功能组件。本课题主要以国家半导体公司LM2433为例研究锁相环路频率综合器的测试方法。LMX2433锁相环路在2.25V至2.75V的电压范围内操作,能以3.6GHz的射频频率操作,并且可支持1.7GHz的中频,供电电流为7.0mA,可随意选择的同步或异步停机模式、1 mA或4mA的可编程电荷泵电流、内置超时计数器的快速锁定(Fastlock)技术、数字滤波锁定检测输出及1.8VMicrowire逻辑电路接口,有16／17的模数预定标器可供选择。LM2433锁相环路测试过程中所使用的测试机是来自LTX公司的Fusion CX测试机。Fusion CX自动测试设备系统是一款可供用户自行配置的模块化的半导体芯片测试机系统,在业界也是被广泛应用。用户可以根据自己的不同需求来制定测试机的配置,以达到节约成本,最大限度的提高测试机的利用率。本文主要从以下几个方面来讨论LM2433锁相环路的测试方法,第二章介绍了LM2433锁相环路的性能和指标。。第三章简单介绍了LTX Fusion CX测试机的主要工作原理及参数。第四章,主要介绍了LM2433锁相环路的直流测试,其中详细描述了测试的初始化测试,开短路测试和输入输出高低电平测试。第五章讨论及研究功能测试,功能测试对于LM2433锁相环路来说是十分重要的。第六章详细的讨论了锁相环路相关特殊的测试方法,高频测试要注意的问题。在第七章,我们研究了测试的数据结果,并且给出了优化的方向。第八章,我们进行了总结与展望。经过本人与团队的调试,LMX2433测试程序和方案已经运用到生产中,测试良品率已经达到了95%以上,可以满足供给客户的样品要求。其中主要的失效在于功能测试,主要与晶圆本身相关。本人将继续监测失效器件的比例和分布,以便进一步在做测试程序的优化。

全文目录

摘要  3-4
ABSTRACT  4-5
第一章引言  5-6
  1.1 选题的依据与意义  5
  1.2 论文设计的目标  5
  1.3 论文的章节构成  5-6
第二章 LMX2433双通道高频锁相环路的性能指标及应用  6-11
  2.1 数字相环路的原理和构造  6-8
  2.2 LMX2433双通道高频锁相环路的特点  8-9
  2.3 LMX2433的关键技术参数  9-10
  2.4 本章小结  10-11
第三章测试系统LTX Fusion概述  11-19
  3.1 LTX Fusion测试系统的结构  11-15
  3.2 主要测试模块及测试程序  15-18
  3.3 本章小结  18-19
第四章 LMX2433载板设计  19-22
  4.1 LMX2433载板原理图  19-21
  4.2 本章小结  21-22
第五章直流测试方法的研究  22-33
  5.1 测试程序的初始化  22-23
  5.2 信号管脚的OPEN/SHOT测试  23-26
  5.3 FinRF~*偏压的测试  26-28
  5.4 IDD和漏电流的测试  28-32
  5.5 本章小结  32-33
第六章功能测试方法的研究  33-44
  6.1 功能测试  33-43
  6.2 本章小结  43-44
第七章 LMX2433测试程序中特殊的测试项目  44-53
  7.1 锁相环电荷泵(chanrge pump)测试  44-46
  7.2 锁相环毛刺(spur)测试  46-48
  7.3 锁相环灵敏度(sensitivity)测试  48-50
  7.4 锁相环相噪声(phase noise)测试  50-52
  7.5 本章小结  52-53
第八章测试结果的分析和讨论  53-56
  8.1 测试结果的分析  53-54
  8.2 测试生产中应该注意的问题  54-55
  8.3 本章小结  55-56
第九章总结与展望  56-57
参考文献  57-58
后记  58-59

双通道高频锁相环路测试方法的研究

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