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模具特许连锁网格化制造系统的物流规划与供货策略分析

作 者: 柳运传
导 师: 陈庆新
学 校: 广东工业大学
专 业: 机械电子工程
关键词: 线阵CCD 光电传感器 特征标志检测边/线标志检测 印刷标志检测 自动增益控制 差动对比度提升 浮动阈值 C8051F023单片机 CPLD
分类号: TG76
类 型: 硕士论文
年 份: 2005年
下 载: 135次
引 用: 1次
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内容摘要


特征标志光电检测技术作为光电技术的一个重要部分,广泛应用于印刷包装的彩色印刷套色质量检测与控制、包装膜、密封膜和封条膜的分条纠偏控制、包装封切控制、物品、距离等检测中。对于提高产品质量、保护商品、美化商品、高效低耗等,具有重要的意义。随着科学技术的进步和使用要求的提高,越来越多的特征标志采用高新技术加工制作而成,传统光电检测技术已难以满足检测要求。因此,特征标志光电检测技术的理论研究及应用研究具有一定学科前沿性,同时,也具有重要和广泛的实际应用前景。 本论文在探讨CCD的基本结构、工作原理、信号处理及其在光电传感器中的应用的基础上,对光电检测技术,特别是基于线阵CCD的特征标志光电检测技术进行了较为广泛和深入的理论研究,提出了自动增益、差动对比度提升、浮动阈值、敏感点可调等处理方法,并设计了前置放大滤波电路、数控自动增益放大电路和浮动阈值电路,存设计过程中灵活应用了各种EDA仿真软件进行了方法验证工作。在分析比较现有印刷等特征标志检测方法优缺点,提出了线阵CCD检测差值算法。重点探讨了特征边/线标志检测CCD光电传感器样机的研制,分别提出了用C8051F023高速单片机和FPGA器件两种方案,在比较两种方案优缺点的基础上,选用C8051F023单片机作为核心器件,研制出了具有可与微机通讯、敏感点可调等功能丰富的传感器样机,并通过大量的实验验证了该传感器样机的功能,并根据大量的实验数据绘出其工作波形及其它参数。结果表明,该特征边/线标志检测CCD光电传感器样机达到了国内先进水平,可用于有效地对薄形物料的边或印刷的线条、图案及其相对位置进行高精度识别,应用于轻工、纺织、印染、印刷及食品包装机械等行业中需要对薄形物料进行自动偏移量控制的场合,确保产品质量和提高生产效率,因而具有广泛的市场前景。

全文目录


摘要  4-5
Abstract  5-10
第1章 引言  10-14
  1.1 基于CCD的特征标志光电检测技术的研究背景及意义  10-11
  1.2 同类研究在国内外的研究现状及发展方向  11-12
  1.3 本论文的研究工作  12-14
第2章 COD光电检测技术  14-21
  2.1 光电检测技术的特点  14-15
  2.2 电荷耦合器件(CCD)原理简介  15-18
  2.3 现有特征标志检测技术的优缺点  18-19
  2.4 本论文研究的特征标志光电检测系统的特点和创造性  19-21
第3章 线阵COD特征标志智能检测方法的关键技术研究  21-36
  3.1 智能检测方法研究的思路  21-23
  3.2 前置放大与低通滤波电路设计  23-25
  3.3 自动光强处理技术研究及实现  25-26
  3.4 差动对比度提升技术研究及实现  26-27
  3.5 浮动阈值处理技术研究及实现  27-32
    3.5.1 用CPLD实现浮动阈值二值化  27-32
    3.5.2 单片机软件二值化算法  32
  3.6 线阵CCD智能检测算法的研究  32-35
  3.7 基于线阵CCD的特征标志光电检测传感器原理框图  35-36
第4章 基于线阵COD的特征标志光电检测传感器的研制  36-79
  4.1 方案比较与选择  36-38
    4.1.1 方案一:用FPGA器件实现  36
    4.1.2 方案二:用C8051F023单片机实现  36-38
  4.2 基于线阵CCD的特征标志光电检测传感器的硬件设计  38-66
    4.2.1 C8051F023的硬件资源介绍  38-40
    4.2.2 MAX3000A的简介  40-48
    4.2.3 特征标志COD信号的同步采集电路设计  48-58
    4.2.4 RS-232标准输出电路设计  58-61
    4.2.5 功能设置键盘及显示电路设计  61-65
    4.2.6 总体电路原理图  65-66
  4.3 基于线阵CCD的特征标志光电检测传感器的软件设计  66-78
    4.3.1 主程序  66
    4.3.2 初始化子程序  66-69
    4.3.3 CCD信号采集子程序  69
    4.3.4 二值化子程序  69-70
    4.3.5 键盘扫描子程序  70-71
    4.3.6 参数设定与功能选择程序  71-73
    4.3.7 特征标志检测子程序  73-75
    4.3.8 位置偏移量两路互补模拟量输出子程序  75-76
    4.3.9 与PC机通讯子程序  76-77
    4.3.10 CPLD实现的数码管显示Verilog HDL程序  77-78
  4.4 PC机与单片机通讯处理程序  78-79
第5章 传感器样机的调试及性能测试  79-93
  5.1 传感器样机实物图  79-80
  5.2 极限参数测试  80
  5.3 参数设置及实测数据  80-88
  5.4 实测数据分析  88-91
  5.5 与PC机通讯实验  91-92
  5.6 实验结论  92-93
第6章 工作总结与研究展望  93-95
  6.1 工作总结  93-94
  6.2 研究展望  94-95
独创性申明  95-96
致谢  96-97
参考文献  97-100
硕士期间所发表论文  100

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中图分类: > 工业技术 > 金属学与金属工艺 > 刀具、磨料、磨具、夹具、模具和手工具 > 模具
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