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电化学共沉积ZnSe薄膜材料及抑氢机理研究
作 者: 张成光
导 师: 刘传绍;缪娟
学 校: 河南理工大学
专 业: 材料加工工程
关键词: 电化学共沉积 ZnSe薄膜 化学计量比 抑氢
分类号: TB43
类 型: 硕士论文
年 份: 2007年
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内容摘要
ZnSe是重要的、优良的Ⅱ-Ⅵ族半导体材料,它具有直接跃迁型能带结构,禁带为2.7eV,宽的透光范围(0.5~22μm),较高的发光效率,低的吸收系数等优点,是一种制备可见光发射器件的优选材料,应用于蓝绿发光半导体二极管,光致发光和电致发光仪器,激光和薄膜太阳能电池等,所以,ZnSe薄膜一直是研究的热点。首先,根据电化学原理,从理论上阐述了两种或两种以上元素电化学共沉积的原理,并对ZnSe薄膜成分与电化学共沉积参数(PH值、离子的浓度比、电流密度、络合剂、温度、时间)的依赖关系进行了理论分析。然后,设计电化学共沉积实验方案以及电化学共沉积装置,以不锈钢作为阳极材料、铜作为阴极衬底材料,在硫酸锌和亚硒酸钠电解液溶液中进行ZnSe薄膜生长条件系列实验,为了进一步研究电沉积参数对薄膜成分和形貌的影响,采用了正交试验方法,对PH值、离子的浓度比、电流密度、络合剂、温度、时间等沉积参数进行了进一步详细研究,得到了最佳电化学沉积参数。用分光光度计、扫描电子显微镜(SEM)、X射线能量散射分析(EDAX)和X-射线衍射仪(XRD)对薄膜的成分、形貌和结构进行分析和表征,该ZnSe薄膜的化学计量比接近1:1并且为多晶薄膜。本文还对ZnSe阴极抑氢机理进行了探讨,通过对阴极极化曲线的研究,表明ZnSe的氢析出过电位更大,也即它能抑制氢气的析出,由于sp~3杂化轨道的存在使ZnSe晶体具有共价键晶体的特性,使得氢原子更不容易吸附。
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全文目录
摘要 4-5 Abstract 5-10 1 绪论 10-22 1.1 课题来源与背景 10 1.2 ZnSe薄膜的基本特性及应用 10-13 1.2.1 ZnSe薄膜的基本特性 10-12 1.2.2 ZnSe薄膜的基本应用 12-13 1.3 电化学沉积简介 13 1.4 ZnSe制备技术研究现状 13-17 1.4.1 化学气相沉积法(CVD) 13-14 1.4.2 金属有机物化学气相沉积法(MOCVD) 14 1.4.3 物理气相沉积法(PVD) 14 1.4.4 分子束外延生长法(MBE) 14-15 1.4.5 热壁外延法(HWE) 15 1.4.6 化学浴沉积法(CBD) 15-16 1.4.7 脉冲激光沉积法(PLD) 16 1.4.8 光化学沉积法(PCD) 16 1.4.9 原子层外延生长法(ALE) 16-17 1.5 国外电化学沉积ZnSe薄膜研究现状 17-19 1.5.1 酸性体系电沉积制备ZnSe薄膜 17 1.5.2 电沉积掺杂制备p、n 型ZnSe薄膜 17-18 1.5.3 三维体系电沉积制备ZnSe薄膜 18 1.5.4 固熔体系电沉积制备ZnSe薄膜 18-19 1.6 本课题的主要研究内容 19-20 1.7 本章小结 20-22 2 电化学共沉积理论 22-34 2.1 电化学共沉积原理 22-33 2.1.1 电极电位 23-28 2.1.2 过电位 28-33 2.2 电化学沉积物转化为合成物的热力学分析 33 2.3 本章小结 33-34 3 电化学共沉积ZnSe薄膜实验 34-48 3.1 实验方案的设计 34 3.2 实验装置与原料 34-36 3.2.1 实验装置的设计 34-35 3.2.2 电解液的组成 35 3.2.3 电极的处理 35-36 3.3 实验参数的分析与选择 36-42 3.3.1 浓度比的分析与选择 36-40 3.3.2 络合剂的分析与选择 40-41 3.3.3 pH 值的分析与选择 41 3.3.4 电流密度的分析与选择 41-42 3.3.5 沉积温度的分析与选择 42 3.3.6 沉积时间的分析与选择 42 3.4 测试与表征 42-47 3.4.1 分光光度计 42-44 3.4.2 扫描电子显微镜 44-46 3.4.3 X-射线衍射 46-47 3.4 本章小结 47-48 4 实验结果与分析 48-66 4.1 沉积参数对ZnSe薄膜成分的影响 48-55 4.1.1 pH 值对ZnSe薄膜成分的影响 48-49 4.1.2 电流密度对ZnSe薄膜成分的影响 49-50 4.1.3 沉积时间对ZnSe薄膜成分的影响 50-52 4.1.4 Zn~(2+)/Se0_3~(2-)浓度比对ZnSe薄膜成分的影响 52-53 4.1.5 柠檬酸钠对ZnSe薄膜成分的影响 53-54 4.1.6 温度对ZnSe薄膜成分的影响 54-55 4.2 电沉积ZnSe薄膜的正交试验设计 55-62 4.2.1 正交试验设计 55-57 4.2.2 ZnSe薄膜成分分析 57-60 4.2.3 ZnSe薄膜形貌分析 60-62 4.3 ZnSe薄膜表征 62-64 4.3.1 扫描电子显微镜分析 62-63 4.3.2 X-射线衍射分析 63-64 4.3.3 薄膜附着力测试 64 4.3.4 薄膜厚度的测试 64 4.3.5 电阻的测试 64 4.4 本章小结 64-66 5 ZnSe阴极抑氢机理探讨 66-70 5.1 氢析出反应机理 66-67 5.2 实验研究方法 67 5.3 不同电极对析氢过电势的影响 67-69 5.4 本章小结 69-70 6 总结与展望 70-72 6.1 论文完成的主要结论 70 6.2 今后工作展望 70-72 参考文献 72-78 附录 78-86 致谢 86
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中图分类: > 工业技术 > 一般工业技术 > 工业通用技术与设备 > 薄膜技术
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