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EPA网络芯片验证平台的设计与实现

作 者: 陈鹏
导 师: 冯冬芹
学 校: 浙江大学
专 业: 检测技术与自动化装置
关键词: OVM 组件 OOP 验证平台 EPA网络芯片
分类号: TN407
类 型: 硕士论文
年 份: 2011年
下 载: 13次
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内容摘要


随着芯片设计规模日益庞大,芯片功能日益复杂,而要确保这些大规模、高集成度的芯片设计的正确性和稳定性,芯片验证成为主要的障碍和瓶颈。众多调查表明,芯片验证可占据芯片设计周期70%以上的工作量,因此,如何提高验证效率、减少验证工作量、缩短芯片上市时间就成为一项紧迫的任务,而设计高效、可重用的验证平台则可以有效的解决这个问题。验证平台的设计与实现对芯片验证至关重要。本文就如何搭建可重用的验证平台进行详细的阐述。本课题的主要研究内容包括:基于OVM(Open Verification Methodology)验证方法学的层次式验证平台的搭建;EPA网络芯片验证平台搭建的相关技术的设计与实现,如接口interface的绑定、激励的设计等;验证平台在EPA网络芯片功能验证中的实际应用。本论文主要研究了基于OVM的层次化验证平台的设计与实现。首先介绍EPA网络芯片验证平台的具体设计,从信号层、命令层、功能层、场景层再到测试层,共五个层次进行详细的阐述。针对每层的各个验证组件创建和连接,提出了依具体情况灵活取舍的平台设计思想。针对平台的可重用性,采用OVM验证方法学,搭建高效、可重用的验证平台;其次介绍设计验证平台所需的各种技术,如接口、激励、OOP思想等,并在EPA网络芯片验证中实现。在EPA网络芯片验证过程中,采用多种验证手段相结合的方法,如基于定向激励和随机激励相结合,验证结果参考代码覆盖率和功能覆盖率等;最后就是设计的验证平台在EPA网络芯片验证中的具体应用及实现。实践表明,搭建层次化、可重用的验证平台可有效地提高验证效率,缩短芯片验证上市时间,对EPA协议的深入推广与应用具有重要意义。

全文目录


致谢  5-6
摘要  6-7
Abstract  7-10
第一章 绪论  10-24
  1.1 论文的研究背景  10
  1.2 芯片验证概况  10-16
    1.2.1 芯片验证技术  11-14
    1.2.2 芯片验证语言——SystemVerilog介绍  14
    1.2.3 芯片验证方法学——OVM介绍  14-16
  1.3 EPA简介  16-21
    1.3.1 EPA协议栈模型  17-18
    1.3.2 EPA协议栈物理电路  18-19
    1.3.3 EPA网络芯片工作原理  19-21
  1.4 论文的主要研究内容  21-24
第二章 EPA验证平台设计  24-56
  2.1 传统验证平台  24-25
  2.2 OVM验证平台  25-27
    2.2.1 OVM层次化验证平台结构图  25
    2.2.2 验证平台仿真控制程序  25-27
  2.3 EPA网络芯片验证平台设计  27-28
  2.4 各层各组件  28-49
    2.4.1 测试层  29-30
    2.4.2 场景层  30-36
    2.4.3 功能层  36-42
    2.4.4 命令层  42-48
    2.4.5 信号层  48-49
  2.5 搭建验证平台  49-55
    2.5.1 验证平台组织结构  49-52
    2.5.2 连接平台  52-54
    2.5.3 平台运行流程  54-55
  2.6 本章小结  55-56
第三章 EPA网络芯片验证  56-72
  3.1 接口定义  56-59
  3.2 激励策略  59-63
    3.2.1 定向激励  59-60
    3.2.2 随机激励  60
    3.2.3 约束随机激励  60-63
  3.3 覆盖率驱动  63-67
    3.3.1 代码覆盖率  63-64
    3.3.2 路径覆盖率  64
    3.3.3 功能覆盖率  64-67
  3.4 断言设计  67-69
    3.4.1 即时断言  67-68
    3.4.2 并发断言  68-69
  3.5 OOP思想与组件设计  69-70
    3.5.1 OOP思想  69
    3.5.2 组件设计  69-70
  3.6 本章小结  70-72
第四章 验证结果  72-78
  4.1 MAC核验证  72-74
    4.1.1 提取功能点  73-74
    4.1.2 验证结果  74
  4.2 CSME验证  74-76
  4.3 同步精度验证  76-77
  4.4 本章小结  77-78
第五章 总结与展望  78-80
  5.1 工作总结  78
  5.2 工作展望  78-80
参考文献  80-84
作者简历  84
论文发表  84

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中图分类: > 工业技术 > 无线电电子学、电信技术 > 微电子学、集成电路(IC) > 一般性问题 > 测试和检验
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