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基于硅通孔技术的三维集成电路设计与分析

作　者: 钱利波
导　师: 朱樟明
学　校: 西安电子科技大学
专　业: 微电子学与固体电子学
关键词: 3D ICs TSV电热效应互连时延信号完整性有源层温度分布
分类号: TN47
类　型: 博士论文
年　份: 2013年
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内容摘要

计算机与信息技术的空前发展要求超大规模集成（Very Large Scale Integrated,VLSI）电路具有不断增强的功能与性能，同时又具有最低的价格与功耗。对VLSI电路进行激进缩小可以满足这一要求，但也导致了一个非常严重的问题，即互连传输延时与交互干扰噪声取代门延时，成为决定电路性能与功耗的关键因素。另外，随着芯片功能的增强，片内集成的晶体管数目急剧增加，体积与功耗持续上升，已经逼近二维（Two Dimensional,2-D）器件技术的极限，传统平面芯片的研发与生产都遭遇了难以克服的技术瓶颈。三维集成作为一种系统级架构的新方法，内部含有多个平面器件层的层叠，并经由硅通孔（Through Silicon Vis, TSV）在垂直方向实现相互连接，大幅度缩小芯片尺寸，提高芯片的晶体管密度，改善层间电气互联性能，提升芯片运行速度，降低芯片的功耗，成为未来纳米集成电路发展的重要趋势。本文从随机互连线长的分布模型入手，对片上系统（System on Chip,SoC）全局信号布线网络的设计约束进行了深入分析，定义了三维集成电路（ThreeDimensional Integrated Circuits,3-D ICs）全局互连设计空间；基于TSV电热模型，研究了TSV电热传输效应对互连传输延时、功耗密度与有源层温度分布特性的影响，提出了相应的设计优化方法；针对传统铜互连技术面临的物理局限性，提出将碳纳米管应用于3D ICs设计，并探讨了这一新型材料在未来纳米集成电路中应用特性。本文的主要研究成果如下：1.基于随机多层互连分布模型，对3-D ICs的互连线长分布进行合理预测。根据已有随机线长分布，分析了吉规模片上系统（Giga-scale SoC：GSoC）在布线面积需求、布线带宽要求与串扰噪声约束下的全局互连设计空间。通过对包含不同硅有源层的SoC全局设计空间的比较分析，从设计可靠性与电路性能的角度验证了3-D集成技术在吉规模互连电路设计中的巨大优势，为3-D集成技术应用于未来集成电路设计提供了有利的技术支持。2.分析了TSV电阻-电容（Resistance-Capacitance, RC）寄生效应对SoC互连性能及电路功耗影响，并推导了插入缓冲器的三维互连线延时与功耗的解析模型。对不同规模的互连电路模拟结果显示，TSV RC效应将导致互连延时平均增加10%，互连功耗密度平均提高21%；电路规模越小，TSV影响愈加显著。在3-D SoC前端设计中，包含TSV寄生参数的互连模型将有助于设计者更加精确地预测片上互连性能。3.分析了TSV物理尺寸与布局位置对异质3-D ICs的互连时序性能与信号完整性影响，并提出了一个同步改善互连延时与信号反射系数的TSV插入优化算法。与传统TSV等分连线布局算法的模拟比较结果显示，该TSV插入优化算法导致互连延时平均降低了49.96%，反射系数平均减小62.28%，且层间阻抗差异越大，延时优化效果愈加显著，它可以应用于未来3-D ICs的计算机辅助设计。4.采用一维等效热阻方程，建立了考虑TSV传导的3-D ICs热传输解析模型，并分析TSV密度与材质、散热片等效热阻、后端互连热导率及衬底厚度等设计因素对3-D芯片有源层温度分布特性的影响，提出改善散热片等效热阻的优化设计策略。仿真结果表明，降低散热片热阻是应对功耗密度与峰值温度急剧上升，保证3-D芯片可靠工作的有效方式。该热传输模型能够应用于3-D ICs早期电路开发与版图布局，为芯片设计者提供热设计参考与指导。5.对单壁碳纳米管束(Single Wall Carbon Nanotube, SWCNT bundle)连线的电阻-电感-电容（Resistance-Inductance-Capacitance, RLC）参数进行提取与分析，建立了与现有电路仿真软件相兼容的分布参数等效电路模型。在不同工艺节点下，对采用铜互连与SWCNT Bundle连线的3-D ICs各层互连线性能进行分析比较。Hspice仿真结果显示，SWCNT Bundle连线有效地降低了局部互连线延时，优化连线尺寸；对于包含层间TSV与插入缓冲器的中间层和全局互连线，SWCNT bundle连线的传输延时可以只达到铜互连的45.49%与51.84%。具有良好电热传输特性的碳纳米管是未来纳米集成电路互连线的一种很有前景材料。

全文目录

作者简介  3-4
摘要  4-6
Abstract  6-10
第一章绪论  10-20
  1.1 集成电路的发展历程  10-11
  1.2 互连问题与现有应对策略  11-15
  1.3 三维集成  15-18
    1.3.1 三维集成的优势  15-16
    1.3.2 三维集成的挑战  16-18
  1.4 主要工作与结构安排  18-20
第二章 3-D ICs全局互连设计  20-36
  2.1 引言  20
  2.2 线长分布模型  20-27
    2.2.1 分布推导  20-25
    2.2.2 结果比较  25-27
  2.3 全局互连的设计空间  27-34
    2.3.1 设计约束  28-32
    2.3.2 设计空间应用  32-34
  2.4 小结  34-36
第三章考虑TSV寄生效应的 3-D互连线设计  36-50
  3.1 引言  36
  3.2 TSV制备  36-41
  3.3 TSV RLC寄生参数提取  41-43
  3.4 包含TSV寄生效应的互连线模型  43-49
    3.4.1 互连延时  43-45
    3.4.2 互连功耗  45-46
    3.4.3 模型验证与比较  46-49
  3.5 小结  49-50
第四章信号时延与反射驱动的TSV布局设计  50-62
  4.1 引言  50
  4.2 3-D互连线延时  50-55
    4.2.1 RC延时模型  50-53
    4.2.2 RLC延时模型  53-55
  4.3 信号反射  55-57
  4.4 多目标协同优化  57-61
    4.4.1 优化算法  57-58
    4.4.2 结果比较  58-61
  4.5 小结  61-62
第五章 3-D芯片热管理与优化  62-78
  5.1 引言  62
  5.2 考虑TSV传导的热传输解析模型  62-70
    5.2.1 模型推导  62-65
    5.2.2 验证与比较  65-70
  5.3 热驱动优化技术  70-76
    5.3.1 布图规划  70-73
    5.3.2 布局  73-74
    5.3.3 热通孔插入  74-76
  5.4 小结  76-78
第六章碳纳米管TSV连线设计  78-94
  6.1 引言  78
  6.2 碳纳米管结构与特性  78-81
  6.3 单壁碳纳米管及单壁碳纳米管束的建模  81-85
    6.3.1 电阻模型  81-82
    6.3.2 电容模型  82-84
    6.3.3 电感模型  84
    6.3.4 互连线等效电路模型  84-85
  6.4 性能分析与比较  85-92
    6.4.1 电阻率  86-87
    6.4.2 局部互连线  87-89
    6.4.3 中间层互连与全局互连  89-91
    6.4.4 非理想接触电阻的影响  91-92
  6.5 小结  92-94
第七章总结与展望  94-98
  7.1 总结  94-95
  7.2 未来工作展望  95-98
致谢  98-100
参考文献  100-110
攻读博士期间参与的研究工作与成果  110-111

基于硅通孔技术的三维集成电路设计与分析

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