学位论文 > 优秀研究生学位论文题录展示

基于RTL行为模型的测试产生及时延测试方法

作　者: 李华伟
导　师: 李忠诚
学　校: 中国科学院研究生院（计算技术研究所）
专　业: 计算机应用技术
关键词: 寄存器传输级(RTL) 有限状态机自动向量测试产生(ATPG) 时延测试故障诊断
分类号: TN407
类　型: 博士论文
年　份: 2001年
下　载: 306次
引　用: 2次
阅　读: 论文下载

内容摘要

集成电路(Integrated Circuit，简称IC)测试是保证数字系统安全可靠工作的一个重要且必不可少的环节。随着电路规模的扩大和设计层次的提高，需要在电路设计的高层直接对电路进行测试产生，这一课题受到工业界和研究领域的广泛关注。同时，随着数字系统工作时钟频率的迅速提高，以确保数字电路时间特性的正确性为目标的时延测试也成为测试领域的一个热点问题。作者在基于寄存器传输级(Register Transfer Level，简称RTL)行为模型的测试产生和门级时延测试方法这两个领域均作了深入研究。本文首先从IC逻辑测试的测试产生和IC时延测试方法这两个方面系统地综述了测试产生和时延测试领域迄今为止的主要研究成果。作为本文研究的重点之一，本文在RTL行为描述的测试产生方面，提出了新的RTL行为模型的描述方法以及基于这种描述的测试产生技术。在IC时延测试方面，本文在全面地总结各种通路时延测试方法的基础上，重点介绍了作者提出的可变双观测点的时延测试方法，并基于该方法提出了新的时延故障诊断方法。上述技术应用于作者实现的两个测试系统中：一个是基于聚类的测试产生系统，它实现了针对RTL行为模型的自动测试产生；一个是可变双观测点的时延测试系统，它提供了从时延测试到故障诊断等一系列测试工具。本文创造性的工作主要有3个方面： 1．提出了一种新的行为模型的描述方法：行为阶段聚类描述。行为阶段聚类描述将电路所实现的有限状态机的状态映射到若干行为阶段中，对行为阶段的聚类能够清晰地反映电路的工作模式。行为阶段聚类描述有望应用于对电路的功能分析、设计验证和测试中。 2．在行为阶段聚类描述基础上建立了一种新的行为级故障模型：行为阶段转换故障模型，并提出了一种针对RTL行为模型的基于聚类的测试产生算法。该算法与对行为阶段聚类的技术一起集成到一个基于行为阶段聚类的自动测试产生系统ATCLUB中。实验结果表明，ATCLUB效率很高，能够以较短的测试序列达到对电路门级固定型故障的较高的覆盖率。 3．在本人提出的可变双观测点的时延测试方法的基础上提出了一

全文目录

摘要  4-6
Abstract  6-11
第一章引言  11-23
  1.1 IC测试概述  11-19
    1.1.1 逻辑功能测试的测试产生问题  12-16
    1.1.2 时延测试  16-19
  1.2 本文的内容及章节安排  19-23
第二章 RTL行为描述与有限状态机  23-37
  2.1 RTL行为描述  23-31
    2.1.1 硬件描述语言  24-25
    2.1.2 RTL行为描述与同步时序电路  25-27
    2.1.3 有关RTL行为描述的若干定义  27-29
    2.1.4 基于RTL行为描述的测试产生  29-31
  2.2 有限状态机  31-36
    2.2.1 有限状态机的基本性质  32-33
    2.2.2 有限状态机的逻辑级描述  33-35
    2.2.3 有限状态机的RTL行为描述  35-36
  2.3 本章小结  36-37
第三章电路的行为阶段  37-45
  3.1 阶段变量  37-41
  3.2 行为阶段转换函数  41-44
  3.3 本章小结  44-45
第四章行为阶段的聚类  45-63
  4.1 对电路状态聚类的动机  45-48
  4.2 基于RTL行为描述的状态聚类:行为阶段聚类  48-61
    4.2.1 一个对电路行为阶段聚类的例子  48-50
    4.2.2 行为阶段聚类的概念  50-53
    4.2.3 行为阶段聚类的方法  53-60
    4.2.4 行为阶段的聚类描述  60-61
  4.3 本章小结  61-63
第五章基于聚类的RTL测试产生  63-84
  5.1 故障模型  63-66
    5.1.1 故障的模型化与测试产生  63-65
    5.1.2 行为阶段转换故障  65-66
  5.2 基于聚类的测试产生算法  66-69
  5.3 基于聚类的ATPG系统ATCLUB  69-83
    5.3.1 数据结构  69-76
      5.3.1.1 RTL行为描述的结构分析  69-74
      5.3.1.2 行为阶段聚类的数据结构  74-76
    5.3.2 系统框架  76-79
    5.3.3 实验结果  79-83
  5.4 本章小结  83-84
第六章时延测试的基本概念和方法  84-103
  6.1 门时延测试  84-86
  6.2 通路时延测试  86-103
    6.2.1 基本概念  86-88
    6.2.2 单通路时延故障分类及可测试性标准  88-97
    6.2.3 强键依赖集  97-98
    6.2.4 基本通路集  98-102
    6.2.5 通路时延测试总结  102-103
第七章可变双观测点的时延测试  103-121
  7.1 可变观测点的时延测试思想  103-105
  7.2 可变双观测点的时延测试的理论基础  105-112
    7.2.1 物理通路图  105-106
    7.2.2 完全时延测试集  106-110
    7.2.3 寻找线性无关通路集  110-112
  7.3 可变双观测点的时延测试模型  112-113
  7.4 可变双观测点的时延测试产生的实验结果  113-115
  7.5 用基于测量的方法实现可变双观测点的时延测试  115-119
    7.5.1 单跳变敏化  116-117
    7.5.2 单跳变敏化的实验结果分析  117-119
    7.5.3 单跳变敏化用于可变双观测点时延测试的实验结果  119
  7.6 本章小结  119-121
第八章基于测量的时延故障诊断  121-132
  8.1 时延模型和时延故障模型  122-123
  8.2 时延故障诊断方法  123-130
    8.2.1 逻辑通路图  123-125
    8.2.2 时延故障诊断方法  125-127
    8.2.3 时延故障诊断的实验结果分析  127-130
  8.3 本章小结  130-132
第九章结论  132-138
  9.1 主要工作  132-136
  9.2 今后工作的设想  136-138
附录I 物理通路矩阵的秩  138-144
参考文献  144-159
致谢  159-160
作者简历  160-161

基于RTL行为模型的测试产生及时延测试方法

内容摘要

全文目录

相似论文