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EDXRFA软件开发与算法设计

作　者: 孙华敖
导　师: 吴建平
学　校: 成都理工大学
专　业: 核技术及应用
关键词: X射线荧光分析本底扣除函数拟合 L-M算法
分类号: TP311.52
类　型: 硕士论文
年　份: 2008年
下　载: 99次
引　用: 1次
阅　读: 论文下载

内容摘要

能量色散X射线荧光分析技术是现代分析方法中的一种重要手段,广泛应用于钢铁、建筑材料、电子/磁性材料、化学工业、石油煤炭、农业、环境样品等领域。谱线数据分析技术是一种提高X射线荧光分析的精度、更深挖掘谱线信息的一种数学处理方法,它弥补了由于探测器能量分辨率不足造成的测量误差。论文详细讨论了最小二乘法原理,包括线性最小二乘法拟合、正交多项式的最小二乘法拟合和一般的非线性最小二乘法拟合,尤其是L-M算法。在X射线荧光分析软件里,首先采用Savitsky和Golay多项式滤波器对谱线进行光滑,然后采用峰剥离或正交多项式最小二乘法拟合的方法扣除本底。能量刻度后,采用top-hat滤波器进行寻峰。通过VC编程,利用一般的非线性最小二乘法拟合对谱线数据进行高斯峰拟合。对拟合数据通过画图和列表方式,比较分析拟合效果和误差。将该软件应用于具体测试,由分析结果得出,函数拟合的平均方差为40.07,提高了X射线荧光测量的精度,扩大了X荧光分析技术的应用范围。

全文目录

摘要  4-5
Abstract  5-6
目录  6-8
第1章引言  8-15
  1.1 X荧光测量的发展与现状  8-11
  1.2 X射线荧光分析软件的现状  11-14
  1.3 论文工作的主要内容  14-15
第2章最小二乘法的原理  15-25
  2.1 线性最小二乘法拟合  15-18
  2.2 正交多项式的最小二乘法拟合  18-19
  2.3 非线性最小二乘法拟合  19-25
    2.3.1 变换为线性函数  20
    2.3.2 一般非线性最小二乘法  20-25
第3章 X射线荧光分析软件研究  25-35
  3.1 谱线的光滑  25-26
  3.2 寻峰的理论基础  26-27
  3.3 能量刻度  27-28
  3.4 本底估计的原理  28-30
    3.4.1 剥峰方法  28-29
    3.4.2 正交多项式本底估计  29-30
  3.5 荧光强度的提取  30-35
第4章软件设计与实现  35-46
  4.1 软件总体框图和功能介绍  35-36
  4.2 软件具体模块的实现  36-46
    4.2.1 谱线数据光滑  36
    4.2.2 寻峰  36-39
    4.2.3 扣本底  39-42
    4.2.4 高斯峰拟合  42-46
第5章应用效果  46-53
  5.1 X荧光分析系统  46
  5.2 软件功能效果  46-51
  5.3 软件应用效果  51-53
结论  53-54
致谢  54-55
参考文献  55

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