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非接触式IC卡测试技术的研究与应用
作 者: 金倩
导 师: 刘志镜;王立建
学 校: 西安电子科技大学
专 业: 计算机技术
关键词: 非接触式IC卡 标准 测试
分类号: TN409
类 型: 硕士论文
年 份: 2010年
下 载: 47次
引 用: 1次
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内容摘要
非接触式IC卡目前广泛应用于支付(如:公共交通、小额消费)和认证(身份识别、门禁)等领域。从长远的角度看,非接触式IC卡会将目前广泛使用的接触式IC卡从其传统应用领域(电话卡、银行卡)中极大程度地替换出去。随着非接触式IC卡生产与应用的快速发展,由于产品质量问题所引起的纠纷也越来越多,相关产品的测试需求因此也日趋增多。目前国内外还没有非接触式IC卡空中接口和传输协议方面的标准符合性测试设备,本课题通过对非接触式IC卡基础技术标准和测试方法标准的研究,建立一套包括软硬件在内的完整的非接触式IC卡标准符合性测试系统,为生产商和用户提供标准符合性检测服务,进一步促进非接触式IC卡生产与应用的发展。目前该系统已在工业和信息化部电子工业标准化研究所投入使用,取得了良好的效果。
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全文目录
摘要 3-4 Abstract 4-7 第一章 绪论 7-11 1.1 研究背景 7-8 1.2 论文主要研究内容 8 1.3 论文的组织结构 8-11 第二章 非接触式IC卡概述 11-25 2.1 IC卡的发展历史 11 2.2 IC卡技术概况 11-20 2.2.1 IC卡的分类 12-13 2.2.2 IC卡技术特点 13-14 2.2.3 非接触式IC卡技术原理 14-19 2.2.4 非接触式IC卡的优点 19-20 2.3 非接触式IC卡应用情况介绍 20-25 2.3.1 在公共交通领域的应用 20-22 2.3.2 IC卡在门禁控制、身份识别中的应用 22-25 第三章 非接触式IC卡基础技术标准分析 25-51 3.1 IC卡标准情况介绍 25-27 3.1.1 负责IC卡国际标准的组织 25 3.1.2 IC卡国际标准现状 25-27 3.1.3 不同IC卡标准之间的关系 27 3.2 ISO/IEC 14443非接触式IC卡标准 27-51 3.2.1 第1部分:物理特性 28 3.2.2 第2部分:射频功率和信号接口 28-45 3.2.3 第3部分:初始化和防冲突 45-51 第四章 非接触式IC卡测试标准分析 51-63 4.1 PICC和PCD功能测试的测试装置和测试电路 51-59 4.1.1 校准线圈 51-52 4.1.2 测试PCD装置 52-57 4.1.3 参考PICC 57-59 4.1.4 数字取样示波器 59 4.2 功能测试——PICC 59-60 4.2.1 目的 59 4.2.2 测试规程 59-60 4.3 功能测试——PCD 60-61 4.3.1 PCD场强和功率传输 60-61 4.3.2 调制指数和波形 61 4.3.3 负载调制接收 61 4.4 工作场强测试 61-63 4.4.1 目的 61 4.4.2 测试过程 61-63 第五章 非接触式IC卡测试关键技术的分析与实现 63-71 5.1 技术参数分析与实现 63-67 5.1.1 工作场强 63 5.1.2 工作频率 63-64 5.1.3 响应时间(TR0、TR1) 64 5.1.4 通信时序 64-65 5.1.5 帧结构 65-66 5.1.6 调制深度 66-67 5.2 研究过程中遇到的问题 67-69 5.2.1 场强的测量 68 5.2.2 时序参数的测量问题 68 5.2.3 测试过程的自动测试实现 68-69 5.3 测试技术的先进性 69-71 第六章 非接触式IC卡测试仪 71-85 6.1 非接触式IC卡测试仪 71-72 6.2 非接触式IC卡测试软件ReaderTools3.0 72-85 6.2.1 Reader Tools3.0的特点 72-73 6.2.2 Reader Tools3.0使用方法 73-79 6.2.3 Reader Tools3.0命令及使用实例 79-85 第七章 结束语 85 专利情况 85-87 致谢 87-89 参考文献 89
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中图分类: > 工业技术 > 无线电电子学、电信技术 > 微电子学、集成电路(IC) > 一般性问题 > 应用
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