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非接触式IC卡测试技术的研究与应用

作 者: 金倩
导 师: 刘志镜;王立建
学 校: 西安电子科技大学
专 业: 计算机技术
关键词: 非接触式IC卡 标准 测试
分类号: TN409
类 型: 硕士论文
年 份: 2010年
下 载: 47次
引 用: 1次
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内容摘要


非接触式IC卡目前广泛应用于支付(如:公共交通、小额消费)和认证(身份识别、门禁)等领域。从长远的角度看,非接触式IC卡会将目前广泛使用的接触式IC卡从其传统应用领域(电话卡、银行卡)中极大程度地替换出去。随着非接触式IC卡生产与应用的快速发展,由于产品质量问题所引起的纠纷也越来越多,相关产品的测试需求因此也日趋增多。目前国内外还没有非接触式IC卡空中接口和传输协议方面的标准符合性测试设备,本课题通过对非接触式IC卡基础技术标准和测试方法标准的研究,建立一套包括软硬件在内的完整的非接触式IC卡标准符合性测试系统,为生产商和用户提供标准符合性检测服务,进一步促进非接触式IC卡生产与应用的发展。目前该系统已在工业和信息化部电子工业标准化研究所投入使用,取得了良好的效果。

全文目录


摘要  3-4
Abstract  4-7
第一章 绪论  7-11
  1.1 研究背景  7-8
  1.2 论文主要研究内容  8
  1.3 论文的组织结构  8-11
第二章 非接触式IC卡概述  11-25
  2.1 IC卡的发展历史  11
  2.2 IC卡技术概况  11-20
    2.2.1 IC卡的分类  12-13
    2.2.2 IC卡技术特点  13-14
    2.2.3 非接触式IC卡技术原理  14-19
    2.2.4 非接触式IC卡的优点  19-20
  2.3 非接触式IC卡应用情况介绍  20-25
    2.3.1 在公共交通领域的应用  20-22
    2.3.2 IC卡在门禁控制、身份识别中的应用  22-25
第三章 非接触式IC卡基础技术标准分析  25-51
  3.1 IC卡标准情况介绍  25-27
    3.1.1 负责IC卡国际标准的组织  25
    3.1.2 IC卡国际标准现状  25-27
    3.1.3 不同IC卡标准之间的关系  27
  3.2 ISO/IEC 14443非接触式IC卡标准  27-51
    3.2.1 第1部分:物理特性  28
    3.2.2 第2部分:射频功率和信号接口  28-45
    3.2.3 第3部分:初始化和防冲突  45-51
第四章 非接触式IC卡测试标准分析  51-63
  4.1 PICC和PCD功能测试的测试装置和测试电路  51-59
    4.1.1 校准线圈  51-52
    4.1.2 测试PCD装置  52-57
    4.1.3 参考PICC  57-59
    4.1.4 数字取样示波器  59
  4.2 功能测试——PICC  59-60
    4.2.1 目的  59
    4.2.2 测试规程  59-60
  4.3 功能测试——PCD  60-61
    4.3.1 PCD场强和功率传输  60-61
    4.3.2 调制指数和波形  61
    4.3.3 负载调制接收  61
  4.4 工作场强测试  61-63
    4.4.1 目的  61
    4.4.2 测试过程  61-63
第五章 非接触式IC卡测试关键技术的分析与实现  63-71
  5.1 技术参数分析与实现  63-67
    5.1.1 工作场强  63
    5.1.2 工作频率  63-64
    5.1.3 响应时间(TR0、TR1)  64
    5.1.4 通信时序  64-65
    5.1.5 帧结构  65-66
    5.1.6 调制深度  66-67
  5.2 研究过程中遇到的问题  67-69
    5.2.1 场强的测量  68
    5.2.2 时序参数的测量问题  68
    5.2.3 测试过程的自动测试实现  68-69
  5.3 测试技术的先进性  69-71
第六章 非接触式IC卡测试仪  71-85
  6.1 非接触式IC卡测试仪  71-72
  6.2 非接触式IC卡测试软件ReaderTools3.0  72-85
    6.2.1 Reader Tools3.0的特点  72-73
    6.2.2 Reader Tools3.0使用方法  73-79
    6.2.3 Reader Tools3.0命令及使用实例  79-85
第七章 结束语  85
专利情况  85-87
致谢  87-89
参考文献  89

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中图分类: > 工业技术 > 无线电电子学、电信技术 > 微电子学、集成电路(IC) > 一般性问题 > 应用
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