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GaN异质外延初始生长条件的优化及其实时监控
作 者: 周智猛
导 师: 顾彪
学 校: 大连理工大学
专 业: 微电子与固体电子
关键词: GaN 电子回旋共振等离子体 生长工艺 实时监控系统
分类号: TN304.054
类 型: 硕士论文
年 份: 2003年
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内容摘要
GaN,作为第三代半导体材料,因为其优良的特性,日益成为研究的重点,在微电子和光电子领域具有十分广阔的应用优势和发展前景。 本论文隶属于国家自然科学基金(自组装GaN量子点结构的ECR-PEMOCVD生长及特性(69976008))这个课题。根据自组装量子点的生长原理,在生长GaN的量子点之前,我们需要生长一层晶质良好AlN外延层。但由于受我们实验装置加热炉温度的限制,以及我们在GaN生长方面积累了丰富经验,我们决定在生长AlN外延层之前先生长一层GaN外延层作为过渡。我们认为由于GaN与AlN之间晶格失配小,因此在GaN外延层层上容易生长出来的晶质良好AlN。 本论文一方面的主要工作是在薄膜生长原理的理论指导下,在实验室自行研制的半导体材料生长装置ESPD-U上,采用电子回旋共振等离子体增强(ECR-PEMOCVD)方法,通过对样品高能电子衍射、X射线衍射和原子力显微镜的测试结果的比较,在蓝宝石衬底上摸索GaN异质外延初始生长工艺(氢等离子体氢洗、氮化、缓冲层生长)的优化的生长条件。在我们课题组全体成员的努力下,通过改变氢等离子体清洗的时间和清洗温度,衬底氮化的氮化时间和氮气的流量,缓冲层生长的Ⅴ/Ⅲ比和生长温度,我们初步得到了一个优化的初始生长条件,并采用这个初始生长条件外延生长出晶质良好的GaN。 本论文另一方面的重要工作是和大连理工大学电信学院合作,通过分析实验工艺流程的特点,为实验室的ESPD-U设备共同开发了一套半导体薄膜生长实时监控系统。使用表明:这套系统保证了工艺流程的连续可靠运行,提高实验的可重复性、降低实验人员的劳动强度、基本上达到了预计的设计要求。 本论文工作受到国家自然科学基金(69976008)“自组装GaN量子点结构的ECR-PEMOCVD生长及特性”的支持。
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全文目录
第一章 绪论 7-15 1.1 概述 7-9 1.1.1 引言 7-8 1.1.2 GaN材料的性质 8-9 1.2 GaN的生长技术 9-11 1.2.1 GaN异质外延衬底的选择 9-10 1.2.2 材料生长方法 10-11 1.3 GaN基器件及应用前景 11-14 1.4 论文的选题依据及主要研究工作 14-15 第二章 实验装置原理及其组成 15-22 2.1 引言 15 2.2 电子回旋共振金属有机物化学汽相沉积技术 15-17 2.2.1 MOCVD(金属有机物化学汽相沉积)介绍 15-16 2.2.2 电子回旋共振(ECR)放电的原理及其特征 16-17 2.3 ESPD-U组成及其特征 17-20 2.4 小结 20-22 第三章 薄膜的生长机理与影响因素 22-29 3.1 薄膜的生长机理 22-27 3.1.1 薄膜的成核 22-25 3.1.2 薄膜生长模式 25-27 3.2 影响薄膜结构和成核的因素 27-28 3.3 小结 28-29 第四章 常用分析方法简介 29-35 4.1 反射高能电子衍射 29-31 4.1.1 RHEED原理 29-30 4.1.2 RHEED图像分析 30-31 4.2 原子力显微镜 31-33 4.3 X射线衍射 33-34 4.3.1 X光衍射原理 33 4.3.2 X射线衍射分析 33-34 4.4 小结 34-35 第五章 六方GaN薄膜生长工艺与试验结果分析 35-48 5.1 六方GaN薄膜生长工艺 35-46 5.1.1 衬底的清洗 35-40 5.1.2 氮化 40-43 5.1.3 缓冲层的生长 43-46 5.2 GaN异质外延生长 46-47 5.3 小结 47-48 第六章 半导体薄膜生长实时监控系统的设计与应用 48-59 6.1 系统分析 48-50 6.1.1 GaN生长工艺特点及参数对薄膜晶质影响 48-49 6.1.2 系统需要实现的功能 49-50 6.2 硬件电路设计 50-52 6.2.1 相关实验设备接口特性分析 50 6.2.2 系统硬件结构组成 50-52 6.3 系统程序设计 52-56 6.3.1 系统的组成 52-54 6.3.2 软件的编程 54-56 6.4 系统使用指南 56-57 6.5 系统使用效果与评价 57-58 6.6 结论和展望 58-59 总结 59-60 参考文献 60-62 致谢 62-63
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中图分类: > 工业技术 > 无线电电子学、电信技术 > 半导体技术 > 一般性问题 > 材料 > 一般性问题 > 制取方法与设备 > 外延生长
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