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基于Ⅵ的载流子迁移率测试系统的研制
作 者: 汤震
导 师: 邱桂明
学 校: 汕头大学
专 业: 材料物理与化学
关键词: 虚拟仪器 LabVIEW CELIV 迁移率
分类号: TN304
类 型: 硕士论文
年 份: 2011年
下 载: 7次
引 用: 0次
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内容摘要
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载流子的迁移率是半导体材料的重要特性参数。通过对迁移率的测量,可以准确掌握不同材料的电输运特性。因此,方便、准确地测量半导体载流子的迁移率,对半导体的研究和生产都具有重要的意义。随着科学技术的进步,出现了新的测试仪器——虚拟仪器。虚拟仪器是基于计算机的测试平台,具有交互式的图形界面。由计算机、应用软件和硬件组成,通过软件把计算机硬件资源和仪器硬件有机融为一体。本文介绍了虚拟仪器的发展和LabVIEW相关知识。本文分析了几种传统的测量半导体载流子迁移率的方法和仪器。针对传统方法和仪器存在的测试条件苛刻、精度不高、设备昂贵等缺点,文中根据线性增压载流子瞬态谱这一原理,以LabVIEW为平台设计了一种半导体载流子迁移率测试系统。详细介绍了该系统各部分的硬件组成,详细论述了系统软件的各功能模块的设计和实现方法,其中包括线性增压控制模块、数据采集、数据存储与回放等功能模块。最后,对该半导体载流子迁移率测试系统进行了调试和测试实验,并对测试结果进行了分析。实验结果表明,所研发的测试系统,运行稳定,使用简单方便,具有良好的数据保存、回放及数据图形显示功能,同时软件具有参数设置灵活,可二次开发的优点,具有一定的实用价值和发展前景。
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全文目录
中文摘要 3-4 Abstract 4-8 第1章 绪论 8-14 1.1 选题背景及意义 8-9 1.2 虚拟仪器(Virtual Instrument)的发展及研究现状 9-13 1.3 本文研究的主要内容 13-14 第2章 半导体载流子迁移率测试系统的工作原理 14-22 2.1 半导体材料和载流子迁移率的概述 14-20 2.1.1 测量迁移率的基本方法 14-18 2.1.2 CELIV 18-20 2.2 CELIV 准测条件分析 20-21 2.3 本章小结 21-22 第3章 半导体载流子迁移率测试系统设计的总体方案 22-25 3.1 系统实现的功能 22 3.2 系统的设计原则 22-23 3.3 系统的整体设计方案 23-24 3.4 本章小结 24-25 第4章 半导体载流子迁移率测试系统的硬件设计 25-42 4.1 半导体载流子迁移率测试系统的硬件组成 25-26 4.1.1 模块划分 25 4.1.2 工作流程 25-26 4.2 系统部分硬件电路设计 26-41 4.2.1 电源设计 26-28 4.2.2 单片机系统设计 28-30 4.2.3 电平转换电路设计 30-31 4.2.4 数模转换电路设计 31-35 4.2.5 滤波器的设计 35-38 4.2.6 数据采集电路设计 38-41 4.3 本章小结 41-42 第5章 半导体载流子迁移率测试系统的软件设计 42-63 5.1 图形化编辑语言LabVIEW 42-48 5.1.1 LabVIEW 概述 42-43 5.1.2 LabVIEW 程序组成 43-45 5.1.3 LabVIEW 编程环境 45-46 5.1.4 LabVIEW 调试技术 46-48 5.2 半导体载流子迁移率测试系统的软件总体设计 48-51 5.2.1 软件的总体设计 48 5.2.2 软件设计的程序结构 48-51 5.3 测试系统的软件界面及设计流程 51-53 5.3.1 软件界面 51-53 5.3.2 设计流程 53 5.4 测试功能模块 53-62 5.4.1 线性增压信号控制模块 53-58 5.4.2 信号采集模块 58-60 5.4.3 滤波模块 60 5.4.4 实时波形显示模块 60-61 5.4.5 数据存储和回放模块 61-62 5.5 本章小结 62-63 第6章 半导体载流子迁移率测试系统的调试与实验 63-69 6.1 系统的调试 63-65 6.1.1 硬件电路的制作与调试 63-64 6.1.2 软件的调试 64-65 6.2 样品测试 65-68 6.2.1 本测试系统对样品结构的要求 65-67 6.2.2 肖特基二极管的测试 67-68 6.3 本章小结 68-69 第7章 总结与展望 69-71 7.1 总结 69-70 7.2 展望 70-71 参考文献 71-74 致谢 74-75 攻读硕士学位期间发表论文情况 75-76 个人简历 76
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中图分类: > 工业技术 > 无线电电子学、电信技术 > 半导体技术 > 一般性问题 > 材料
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