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8mm微波辐射计在绝缘子污秽检测中的应用
作 者: 刘蒙
导 师: 高强
学 校: 华北电力大学(河北)
专 业: 通信与信息系统
关键词: 绝缘子污秽 辐射亮温 等值盐密 灰密 8mm微波辐射计
分类号: TM216
类 型: 硕士论文
年 份: 2009年
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内容摘要
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本论文主要研究了8mm微波辐射计在绝缘子污秽检测中的应用,其原理是利用绝缘子污秽的8mm微波辐射特性差异来检测绝缘子污秽程度。首先给出了污秽检测试验的试验方法和装置,然后采用分层媒质模型分析了绝缘子污秽表面的8mm微波辐射特性,验证了试验的可行性;应用该辐射计对XP-70型绝缘子进行人工污秽试验研究,对绝缘子辐射亮温与等值盐密(ESDD)和灰密(NSDD)之间的关系分别进行了曲线拟合,并进行最小二乘法拟合得到污秽绝缘子辐射亮温的计算公式,用TableCurve 3D软件验证了公式;最后对染污方式和灰密性质对试验的影响进行了研究,并通过试验数据,得出高压和自然积污试验与不加电压和人工污秽试验的一致性。
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全文目录
中文摘要 4 英文摘要 4-7 第一章 绪论 7-14 1.1 研究目的和意义 7-9 1.2 国内外研究现状概述 9-12 1.2.1 绝缘子污秽检测的研究方法及现状 9-11 1.2.2 微波辐射测量技术的研究与发展现状 11-12 1.3 本论文的研究方法及主要工作 12-14 1.3.1 研究方法 12 1.3.2 主要工作 12-14 第二章 绝缘子辐射亮温测量试验装置及方法 14-20 2.1 引言 14 2.2 试品 14 2.3 人工染污方法 14-16 2.4 等值盐密与灰密的计算 16-17 2.5 测量装置 17-18 2.6 试验布置及湿润 18-19 2.7 小结 19-20 第三章 8mm 微波辐射计检测绝缘子污秽的理论分析 20-29 3.1 引言 20 3.2 污秽物的检测原理 20-21 3.3 微波辐射测量物理量 21 3.4 辐射计检测绝缘子污秽模型的建立 21-28 3.4.1 三层媒质模型 22-24 3.4.2 污秽层分析 24-25 3.4.3 污秽厚度 25 3.4.4 绝缘子层 25-26 3.4.5 频率的选取 26-27 3.4.6 极化方式和入射角 27-28 3.7 小结 28-29 第四章 不同盐密、灰密下绝缘子的微波辐射特性 29-41 4.1 引言 29 4.2 消去背景天空温度 29-30 4.3 绝缘子辐射亮温与等值盐密的关系 30-33 4.4 绝缘子辐射亮温与灰密的关系 33-35 4.5 最小二乘法拟合污秽绝缘子亮温计算公式 35-38 4.5.1 公式推导 35-36 4.5.2 回归方程显著性检验 36-37 4.5.3 回归系数显著性检验 37-38 4.6 TABLE CURVE3D 软件拟合污秽绝缘子亮温计算公式 38-39 4.7 利用微波辐射计进行实时计算 39-40 4.8 小结 40-41 第五章 电力系统工况下绝缘子微波辐射测量的研究 41-48 5.1 引言 41 5.2 染污方式对绝缘子辐射亮温的影响 41-43 5.3 不溶性物质对绝缘子辐射亮温的影响 43-44 5.4 高电压对绝缘子辐射亮温的影响 44-45 5.5 自然积污绝缘子试验研究 45-47 5.5.1 自然积污绝缘子与人工污秽绝缘子辐射亮温测量的一致性 45 5.5.2 自然积污绝缘子的成分研究 45-46 5.5.3 自然积污绝缘子的清洗方法研究 46-47 5.6 小结 47-48 第六章 结论 48-49 参考文献 49-53 致谢 53-54 在学期间发表的学术论文和参加科研情况 54
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中图分类: > 工业技术 > 电工技术 > 电工材料 > 绝缘材料、电介质及其制品 > 绝缘子和套管
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