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基于Cortex内核嵌入式处理器的压磁传感信号检测技术研究
作 者: 卢修文
导 师: 王瑛
学 校: 北京工业大学
专 业: 信号与信息处理
关键词: 压磁传感器 阻抗测量 AD5933 Cortex STM32
分类号: TP274.4
类 型: 硕士论文
年 份: 2009年
下 载: 259次
引 用: 3次
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内容摘要
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利用压磁效应实现金属应力无损检测的技术,在铁路、油田和先进制造领域有广泛的应用需求。本文在电学理论和磁学理论研究的基础之上,给出一种将压磁传感信号转换成线圈阻抗变化的新方法,并结合嵌入式技术,设计了以STM32和AD5933为核心的阻抗检测装置。通过一系列的实验室测试,表明方案可行。具体的研究内容包括:1.查阅和搜集了大量的相关资料,搞清了相关的电学和磁学基础理论知识,包括电路、磁路与电磁耦合理论,搞清了金属的磁致伸缩效应和压磁效应机理,为进一步研究打下了基础。2.搜集了现有的压磁传感器资料并仔细研究,基本理解了压磁传感器的工作原理。在现有电压输出信号的压磁传感器工作机理的基础之上,从压磁传感器阻抗变化入手,结合电磁耦合原理设计了新的压磁传感信号提取方案,并通过数学推导,找到了理论依据。3.仔细阅读了专用阻抗检测芯片AD5933的的英文资料,理解了其内部结构,掌握了基本使用方法。并且通过大量实验测试,验证了其精度并找到了进一步提高测量精度的方法。4.仔细阅读了基于Cortex内核的嵌入式处理器STM32的英文芯片手册,根据课题需要移植了和修正了芯片外设的相关代码,进行了认真调试。5.设计了基于STM32和AD5933相结合的阻抗检测硬件装置,参与绘制了其中的部分原理图和PCB图,并在电气阻抗检测项目中试用。6.学习了zigbee无线网络技术和嵌入式操作系统windows CE的编程。结合阻抗检测的实验装置,进一步提出了无线传感器网络的在线应力检测的初步的设计方案。
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全文目录
摘要 4-5 ABSTRACT 5-8 第1章 绪论 8-11 1.1 课题研究背景及意义 8-9 1.2 课题相关研究的现状 9-10 1.2.1 无损检测的发展情况 9 1.2.2 应用背景之油井套管的应力检测 9-10 1.3 本课题的任务 10-11 第2章 磁致伸缩效应和逆效应及压磁传感器 11-19 2.1 磁致伸缩效应和逆效应 11-12 2.2 压磁传感器的原理 12-18 2.2.1 应力变化导致压磁传感器输出电压变化 13-15 2.2.2 应力变化导致压磁传感器的阻抗变化 15-18 2.3 本章小结 18-19 第3章 阻抗检测芯片AD5933 19-32 3.1 AD5933 的管脚定义 20-21 3.2 AD5933 内部结构分析 21-24 3.3 内部寄存器定义及设置 24-28 3.3.1 起始频率,频率增量,增量次数的计算和使用方法 26-27 3.3.2 延迟时间寄存器 27 3.3.3 状态寄存器 27-28 3.4 控制寄存器中的各个命令,及整个测量流程 28-29 3.5 AD5933 阻抗检测的基本原理 29-30 3.6 实测某待测电阻 30-31 3.7 本章小结 31-32 第4章 基于嵌入式处理器的阻抗检测装置 32-46 4.1 ARM 的Cortex 内核 32-34 4.1.1 Cortex 内核简介 32-33 4.1.2 ARM Cortex-M3 处理器技术特点 33-34 4.2 基于Cortex-M3 的单片机STM32 34-36 4.3 开发环境IAR EWARM 4.41A 36-38 4.4 程序部分 38-44 4.4.1 必要的设置和必须使用到的片上外设 38-39 4.4.2 调试STM32 的I~2C 出现的问题 39-44 4.5 基于STM32 和AD5933 的嵌入式阻抗检测装置 44-45 4.6 本章小结 45-46 第5章 测试数据及数据分析 46-63 5.1 AD5933 的精度测试及测试数据 46-58 5.1.1 AD5933 参考手册上的不完善之处 46-49 5.1.2 AD5933 的精度测试,数据和结论 49-58 5.2 测量电容 58-60 5.3 测量电感 60-61 5.4 进一步提高小阻抗的测量精度的方法 61-62 5.5 本章小结 62-63 第6章 信号检测技术的发展趋势 63-69 6.1 传感器组网是一种趋势 63 6.2 ZigBee 技术的主要特点和网络结构 63-68 6.2.1 Zigbee 的特点 63-64 6.2.2 Zigbee 组网的范例 64-68 6.3 本章小结 68-69 结论 69-70 参考文献 70-73 攻读硕士学位期间所发表的学术论文 73-74 致谢 74
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中图分类: > 工业技术 > 自动化技术、计算机技术 > 自动化技术及设备 > 自动化系统 > 数据处理、数据处理系统 > 集中检测与巡回检测系统
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