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集成电路动态特性的时域参数测试

作　者: 林云松
导　师: 詹惠琴
学　校: 电子科技大学
专　业: 检测技术与自动化装置
关键词: 自动化测试设备时间数字转换频率测量时间间隔测量
分类号: TN407
类　型: 硕士论文
年　份: 2010年
下　载: 49次
引　用: 1次
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内容摘要

随着集成电路的发展,航空,交通,国防装备等各行个业对集成电路的需求更大,它们的电路运行速率不断提高,对集成电路芯片的时域响应也提出了更严格的要求。集成电路的时域参数测试作为集成电路芯片时域响应的检测手段,已经成为集成电路自动测试系统中不可缺少的一部分,越来越受到集成电路测试行业的重视。本文实现了一种对集成电路时域参数的测试仪器的研制,可以实现集成电路时域相关参数的工业化测量,具有很好的通用性。本文首先介绍集成电路测试发展状况以及集成电路测试中对时域参数测量的意义,然后分析了集成电路测试系统中,对于时域参数测量的特殊性,并根据几种通用的时域参数测试方法,选取了适当的测量方案,在此基础上,按照测量需求,构件并实现了测量的硬件电路。根据硬件电路实现的功能,设计了底层驱动函数,提供方便的硬件资源调用接口给用户和上层函数。为了方便用户对集成电路芯片进行测量,本文设计了用于工程测量的操作界面程序。最后,文章给出了测量数据报告,并对报告进行了分析,表明测量性能达到比较好的效果。此外,本文总结了在设计中遇到的一些问题和采取的解决方案,为进一步的研究提供了便利的条件。本文设计的集成电路时域参数测量模块,已被某集成电路芯片制造企业使用,使用效果表明测试稳定,效率高,通用性能好,成本低,适合国内集成电路生产企业采用,具有较高使用价值。

全文目录

摘要  4-5
ABSTRACT  5-9
第一章绪论  9-14
  1.1 集成电路产业发展  9-10
  1.2 集成电路测试发展  10-11
  1.3 集成电路自动测试系统功能简介  11
  1.4 集成电路时间参数测试  11-12
  1.5 本课题研究  12-13
  1.6 本文结构  13-14
第二章设计分析  14-26
  2.1 集成电路测试系统设计  14-17
  2.2 时间测量部分设计  17-25
    2.2.1 测量时间的基本概念  17-19
      2.2.1.1 上升/下降时间  17-18
      2.2.1.2 周期/频率  18
      2.2.1.3 传输延迟  18-19
    2.2.2 时间间隔测量  19-21
      2.2.2.1 电子计数法  19
      2.2.2.2 模拟内插法  19-20
      2.2.2.3 延迟线法  20-21
    2.2.3 频率测量部分设计  21-24
      2.2.3.1 电子计数法测量频率  22
      2.2.3.2 频率电压转换法测量信号频率  22-23
      2.2.3.3 拍频法测量信号频率  23-24
    2.2.4 集成电路时间参数测量  24-25
  2.3 小结  25-26
第三章时间测量的硬件设计  26-43
  3.1 信号激励设计  26-28
  3.2 通道设计  28-29
    3.2.1 高阻抗通道设计  28-29
    3.2.2 测试通道设计  29
  3.3 比较电平设置  29-32
  3.4 控制逻辑设计  32-34
  3.5 时间测量部分设计  34-36
  3.6 频率测量  36-38
  3.7 信号高速采集部分  38-40
  3.8 通信控制  40-42
  3.9 小结  42-43
第四章软件设计  43-56
  4.1 底层软件设计  43-49
    4.1.1 频率测量  43-44
    4.1.2 时间间隔测量  44-48
    4.1.3 信号采集  48-49
  4.2 软件校准  49-52
    4.2.1 DA 的校准  50-51
    4.2.2 AD 校准  51-52
  4.3 软件界面设计  52-55
  4.4 小结  55-56
第五章结果分析  56-67
  5.1 AD 采样结果分析  56-58
  5.2 频率测量结果分析  58-59
  5.3 信号周期测量  59-60
  5.4 上升/下降时间测量  60-62
  5.5 延迟时间测量  62-63
  5.6 结果误差分析  63-66
    5.6.1 原理误差  63
    5.6.2 信号传输误差  63-64
    5.6.3 信号抖动误差  64-66
  5.7 小结  66-67
第六章总结与展望  67-68
致谢  68-69
文献资料  69-71
攻硕期间取得研究成果  71-72

集成电路动态特性的时域参数测试

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