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基于EOS芯片MAC模块的EDA验证

作　者: 毛哲铭
导　师: 李平；崔自中
学　校: 电子科技大学
专　业: 软件工程
关键词: 功能覆盖率断言 VMM 静态时序分析等价性形式验证
分类号: TN402
类　型: 硕士论文
年　份: 2010年
下　载: 31次
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内容摘要

伴随着信息化的不断深入和芯片技术的发展,集成电路产业已经成为信息时代的重要支柱性产业。对芯片产品需求的不断扩大和要求的不断提升,使得芯片开发时间和成本矛盾日益严峻。芯片的功能和时序验证占芯片开发一半以上的时间和工作量,如何在保证产品质量的同时,有效缩短验证周期,提高验证效率,是业内普遍关注的焦点问题。正是由于上述原因,芯片验证成为近年来发展最快,最为活跃的领域之一,新的工具、技术以及方法论不断出现。本文从功能验证和时序验证入手,重点论述了芯片的动态功能验证、静态时序分析和等价类形式验证三个方面,并结合一款商用EOS芯片的实际项目开发,完成了MAC子模块的功能验证、芯片级的静态时序分析和等价性形式验证等工作。本文中主要介绍的验证关键技术有受约束的随机测试、基于功能覆盖率的验证、基于断言的验证、VMM验证方法学、静态时序分析和等价类形式验证。这些都是目前业界最先进、最流行的验证技术和方法理论。本文在分析传统验证方法缺陷和不足的基础上,综合上述验证方法和理论,提出了以VMM验证方法学为基础,以受约束的随机测试为手段、以覆盖率为驱动,以断言为保证的“综合功能验证方法”,并详细论述了该方法的具体实现。实践表明,综合运用上述验证方法和理论能够全面保证验证充分性和完备性,并且有效缩短验证周期,提高验证工作的效率和问题定位速度。本文主要的验证对象是一款EOS芯片的MAC子模块,但文中所述验证技术和方法论具有通用性和普遍指导意义,同样适用于其它芯片的功能验证和时序验证。

全文目录

摘要  4-5
ABSTRACT  5-7
第一章绪论  7-11
  1.1 芯片验证技术概况  7-9
  1.2 研究此课题的目的与意义  9
  1.3 课题来源  9
  1.4 论文结构  9-11
第二章 EOS芯片和MAC模块介绍  11-20
  2.1 EOS技术介绍  11-16
  2.2 EOS芯片功能介绍  16-17
  2.3 MAC模块介绍  17-20
第三章功能验证  20-64
  3.1 功能验证技术概述  20
  3.2 功能验证方法  20-24
  3.3 功能验证的策略  24-25
  3.4 验证语言和验证工具  25-26
  3.5 EOS芯片MAC子模块验证  26-64
第四章静态时序验证  64-77
  4.1 STA技术简介  64
  4.2 STA的重要概念  64-68
  4.3 STA工具简介  68-71
  4.4 使用PT进行时序分析  71-76
  4.5 验证结果  76-77
第五章形式验证  77-84
  5.1 基本原理和方法  77-78
  5.2 形式验证工具Formality  78-79
  5.3 形式验证脚本  79-81
  5.4 结果分析  81-82
  5.5 常见问题  82-84
第六章总结  84-85
致谢  85-86
参考文献  86

基于EOS芯片MAC模块的EDA验证

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