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高温超导薄膜微波表面电阻的测试
作 者: 张映敏
导 师: 罗正祥
学 校: 电子科技大学
专 业: 物理电子学
关键词: HTS 微波表面电阻 介质谐振器 品质因数
分类号: TM934.14
类 型: 硕士论文
年 份: 2001年
下 载: 105次
引 用: 3次
阅 读: 论文下载
内容摘要
本论文是国家超导中心下达的研究课题。自从1986年发现高温超导电性以来,高温超导材料的应用和研究已在微波技术领域展开,随着高温超导薄膜的广泛应用和制备技术的提高,迫切需要对高温超导薄膜的微波特性参数Rs进行研究。 本文详细介绍了一种采用低损耗高介电常数的兰宝石构成工作在TE011+δ谐振模式的介质谐振器,引入一个简单的线性方程Q0-1=A+BRs,通过对A、B及Q0的值间接地求出Rs,这种方法能够对HTS薄膜的微波表面电阻Rs进行高灵敏度、非损伤的测量。 本文制作了一个工作在12GHz附近的兰宝石介质谐振器测试系统,利用它对HTS薄膜的微波表面电阻进行测试,测试灵敏度高,提高了整个测试系统的品质因素,可成功地用于单片φ30~50.8mm较大超导薄膜的Rs的测试,整个测试系统体积小,操作方便,且所需实验条件简单。
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全文目录
第一章 高温超导体 5-13 1.1 超导的发展 5-7 1.2 高温超导电性机理 7-10 1.3 高温超导电性的应用 10-13 第二章 高温超导薄膜 13-30 2.1 高温超导薄膜制备工艺 13-15 2.2 高温超导薄膜的应用 15-18 2.3 高温超导薄膜的微波表面电阻 18-23 2.4 高温超导薄膜微波表面电阻的测试方法简介 23-28 2.5 介绍一种改进的测试方法 28-30 第三章 兰宝石介质谐振器法测试原理 30-39 3.1 测试方法的理论模型 30-32 3.2 系数的确定和校准方法 32-37 3.3 固有品质因数的测量 37-39 第四章 高温超导薄膜微波表面电阻测试系统 39-45 4.1 兰宝石介质谐振器的设计 39-41 4.2 高温超导薄膜样品的制备 41-43 4.3 测试系统的建立 43-45 第五章 高温超导薄膜微波表面电阻测试 45-49 5.1 高温超导薄膜R_s的测试结果 45-47 5.2 与原有测试结果进行对比 47 5.3 误差分析 47-49 第六章 结论 49-50 参考文献 50-53 致 谢 53-54 附 录 54-57
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中图分类: > 工业技术 > 电工技术 > 电气测量技术及仪器 > 集中参数、分布参数的测量及仪表 > 电阻测量及仪器 > 接触电阻测量、表面电阻测量
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