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微带阵列天线互耦抑制技术的研究
作 者: 江莉
导 师: 肖绍球
学 校: 电子科技大学
专 业: 无线电物理
关键词: 微带阵列天线 缺陷地结构 表面波 互耦抑制 扫描盲点
分类号: TN822
类 型: 硕士论文
年 份: 2008年
下 载: 408次
引 用: 5次
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内容摘要
由于具有剖面薄、体积小、重量轻、造价低廉、便于集成等优点,微带天线及其阵列已经被广泛应用于各种无线通信及雷达系统中。但是,当微带天线及其阵列工作时,会在衬底中激励起表面波,这使得阵列单元间的互耦增大,天线及其阵列增益降低。而相控阵天线中,由于单元间的互耦效应将引起扫描盲点,影响扫描范围。本论文正是基于上述问题开展研究的。首先总结了光子晶体(PBG)、共面电子带隙(UC-EBG)及高阻抗表面在微带阵列天线单元之间互耦抑制方面的应用。然后,研究了缺陷地结构的特点、发展概况及应用。最后提出利用缺陷地结构(DGS)来抑制互耦,从而降低旁瓣,提高天线性能。仿真以及测试结果分析表明,DGS结构能够明显降低天线阵元之间的耦合,增大天线增益,消除相控阵扫描盲点。本文的主要内容为:1.设计了一种新型DGS结构,并对该结构进行了阻带特性及参数提取分析,提出了一种更为准确的阻带特性分析模型,为DGS结构在微带阵列天线中的应用提供较为准确的阻带特性分析途径。2.将该DGS结构引入微带阵列天线中,分析了该结构抑制微带阵列天线单元间互耦的效果。通过仿真和测试得出,在微带天线阵列之间的地板上添加了DGS结构以后,得到了较好的互耦抑制效果,天线阵列增益和辐射效率也较参考天线有所提高。3.分析了DGS结构在相控阵天线扫描盲点抑制中的作用。通过应用Floquet定理分析得出相控阵天线的扫描特性曲线,研究结果表明所提出的DGS结构能有效抑制相控阵扫描盲点。
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全文目录
摘要 4-5 ABSTRACT 5-10 第一章 绪论 10-16 1.1 研究背景和意义 10-12 1.2 缺陷地结构的发展概况及应用 12-15 1.3 本文的主要内容和主要工作 15-16 第二章 矩形微带天线阵元的基本理论 16-24 2.1 微带天线的特性 16-17 2.1.1 微带天线的定义和结构 16 2.1.2 微带天线的优缺点与应用 16-17 2.2 微带天线的辐射特性 17-19 2.3 微带天线中的表面波 19-21 2.3.1 敷有介质层的导体平面 19-21 2.3.2 表面波对天线性能的影响 21 2.4 矩形微带天线单元的设计 21-23 2.4.1 基片材料的选取 22 2.4.2 微带天线单元长度和宽度的选取 22-23 2.4.3 馈电方式的选择 23 2.5 本章小结 23-24 第三章 微带阵列天线中的互耦及扫描盲点 24-39 3.1 微带阵列天线的辐射特性 24-26 3.2 天线阵中的互耦 26-33 3.2.1 互耦的产生 26-27 3.2.2 互耦对天线性能的影响 27-29 3.2.2.1 互耦对阵元方向图的影响 28 3.2.2.2 互耦对阵元输入阻抗和匹配的影响 28-29 3.2.3 互耦效应的分析方法 29-31 3.2.4 二元微带天线阵中的互耦 31-33 3.2.4.1 微带天线E面耦合 32 3.2.4.2 微带天线H面耦合 32-33 3.3 天线阵列互耦抑制研究现状 33-35 3.3.1 介质型光子晶体 33-34 3.3.2 蘑菇状高阻表面光子晶体 34-35 3.3.3 UC-EBG 35 3.4 相控阵天线中的扫描盲点 35-39 3.4.1 相控阵天线的波束扫描 35-36 3.4.2 扫描盲点现象 36-39 第四章 新型缺陷地结构在阵列天线中的应用 39-49 4.1 新型DGS结构的设计及应用 39-43 4.1.1 DGS结构的特性 39-40 4.1.2 新型双U型槽DGS结构的设计 40 4.1.3 DGS微带线阻带特性及参数提取分析 40-42 4.1.4 DGS结构阻带特性分析模型的改进 42-43 4.2 新型DGS结构在天线阵中的应用 43-48 4.2.1 DGS结构抑制阵列天线中的互耦 43-46 4.2.2 DGS结构抑制相控阵天线的扫描盲点 46-48 4.2.2.1 相控阵天线分析模型的建立 46-47 4.2.2.2 相控阵天线扫描盲点的抑制 47-48 4.3 本章总结 48-49 第五章 结论和展望 49-51 5.1 本论文研究总结 49 5.2 前景展望 49-51 致谢 51-52 参考文献 52-55 攻硕期间取得的研究成果 55
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中图分类: > 工业技术 > 无线电电子学、电信技术 > 无线电设备、电信设备 > 天线 > 天线:按波段和波的传播方式分
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