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钒氧化物薄膜制备工艺及性能研究

作 者: 葛振华
导 师: 赵昆渝
学 校: 昆明理工大学
专 业: 材料学
关键词: VO2薄膜 V205薄膜 无机溶胶凝胶法
分类号: TB383.2
类 型: 硕士论文
年 份: 2008年
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内容摘要


本文对钒及钒氧化物,特别是VO2和V2O5的基本性质,制备工艺特别是溶胶凝胶工艺,和应用前景等进行了综述。VO2在68℃左右发生低温半导体态到高温金属态的相变,其电学和光学性能发生突变,在热、电开关和光存储介质方面有着广泛的应用。然而钒和氧作用生成的化合物是钒的各种价态的氧化物如VO、V2O3、V2O5的混合体,要得到纯的VO2很难。人们做了很多工作来研究其光电性质,并用了多种方法来制备VO2薄膜。VO2单晶有优良的电学、光学性能,其在转换温度处,在0.1℃温度变化范围内,其电阻率变化可达5个数量级,但是由于其体膨胀系数较大,相变后单晶会破裂导致相变过程不可逆。本实验以分析纯V2O5为原料,采用无机溶胶凝胶法制备钒氧化物薄膜。熔融水淬制备的V2O5水溶胶,采用浸涂和滴涂两种方法在硅衬底制备了V2O5干凝胶膜,并在空气中处理得到了具有一定择优取向的V2O5薄膜。经XRD分析和显微组织观测,这种择优取向与热处理温度有关,热处理温度越高,V2O5薄膜越趋向于择优生长。对所制备的V2O5薄膜进行真空退火制备VO2薄膜。经过多组工艺筛选实验和重现性实验来确定最佳真空退火工艺。硅衬底和玻璃衬底上VO2薄膜的最佳真空退火工艺为470℃-480℃下真空退火2h。经XRD分析表明:该工艺下制得了具有沿<110>晶向生长的单相VO2薄膜,表面形貌分析表明薄膜表面质量良好,晶粒大小、分布均匀。对所制备的薄膜样品进行电学性能测试和X射线光电子能谱分析(XPS)。电学性能测试表明本实验制备的单相VO2薄膜在所测定的温度区间(295K-350K)范围内呈半导体特性,即电阻随温度升高而下降。XPS分析表明,真空退火工艺确实实现了V5+到V4+的转变,随真空退火温度的提高V2p3的峰位向低能量方向移动,O1s的峰位向高能量方向移动。对钒氧化物薄膜的性能做了初步探索研究,在300℃烘干,450℃/1h空气中热处理,470℃/2h真空退火制得的薄膜样品在290K就能发生了相变,低于VO2单晶相变温度51K,同时电学和光学性能随之变化,通过XRD和XPS分析,此钒氧化物薄膜并非单相而是以低价钒氧化物为主的混合价态。

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中图分类: > 工业技术 > 一般工业技术 > 工程材料学 > 特种结构材料
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