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数字集成电路测试仪测试通道电路设计

作　者: 郝叶军
导　师: 詹惠琴
学　校: 电子科技大学
专　业: 测试计量技术及仪器
关键词: 自动测试仪集成电路测试功能测试直流参数测试现场可编程门阵列
分类号: TN407
类　型: 硕士论文
年　份: 2011年
下　载: 87次
引　用: 1次
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内容摘要

我国是世界上第二大半导体市场,国内数字集成电路行业有了长足的发展。然而,数字集成电路测试行业的发展却远远落后于数字集成电路行业的发展。国内数字集成电路测试仪产品种类较少,成本较高,开发经济实用的测试仪有着重要的意义。采用了存储响应法设计功能测试单元,采用精密测试单元电路设计了直流参数测试单元。设计的测试仪具有多方面的优秀性能:(1)测试速度达到10MHz;(2)可以提供128个功能测试通道和16个直流参数测试通道;(3)功能测试通道的参考电平可以分组单独配置;(4)格式化时钟沿可以按管脚单独设置;(5)具有较好的性价比。研究内容为;1、世界集成电路测试仪的发展历史、趋势以及我国集成电路测试仪的发展情况2、功能测试和直流参数测试的原理3、功能测试单元的实现路线、器件选型、器件功能以及功能测试单元的的控制逻辑4、直流参数测试单元的实现路线、器件选型、器件功能以及控制逻辑5、设计测试板电路,介绍测试仪的功能测试和直流参数测试的参数设置,具体操作步骤和使用中需要注意的地方

全文目录

摘要  4-5
ABSTRACT  5-9
第一章绪论  9-15
  1.1 集成电路测试的历史及发展趋势  9-12
    1.1.1 集成电路测试发展的历史  9-11
    1.1.2 集成电路测试发展的趋势  11
    1.1.3 我国集成电路测试的发展  11-12
  1.2 集成电路测试仪的研制意义  12-13
  1.3 项目来源及研究内容  13-15
第二章数字集成电路测试的原理  15-25
  2.1 基本概念  15-16
  2.2 数字集成电路测试的种类  16
  2.3 直流测试  16-18
  2.4 交流参数测试  18
  2.5 功能测试原理  18-24
    2.5.1 测试向量  20
    2.5.2 测试资源的消耗值  20-24
  2.6 测试流程  24-25
第三章功能测试通道硬件设计  25-36
  3.1 数字集成电路测试仪结构  25-26
  3.2 功能测试通道电路总体框架及设计指标  26-28
    3.2.1 功能测试通道电路结构  26-28
    3.2.2 功能测试通道硬件设计指标  28
  3.3 系统总线控制单元  28
  3.4 存储器SRAM 单元  28-31
  3.5 管脚电路单元（Pin Unit）  31-33
  3.6 程控电压源单元  33-36
第四章功能测试的可编程逻辑设计  36-51
  4.1 开发流程  36-37
  4.2 功能测试单元的逻辑设计总体框架  37-38
  4.3 功能测试逻辑  38-51
    4.3.1 设计中与硬件相关的几个问题  39-40
    4.3.2 管脚芯片控制逻辑  40-43
      4.3.2.1 时序设定逻辑  40-42
      4.3.2.2 格式化编码逻辑  42-43
      4.3.2.3 输出采集和比较逻辑  43
    4.3.3 数模转换器控制逻辑  43-45
    4.3.4 存储器的控制逻辑  45-51
      4.3.4.1 测试矢量译码逻辑  45-47
      4.3.4.2 下载测试矢量逻辑  47-48
      4.3.4.3 读测试矢量  48
      4.3.4.4 写测试结果  48-49
      4.3.4.5 测试结果的读取  49-51
第五章直流参数测试通道设计  51-62
  5.1 直流参数测试通道电路总体框架  51-53
    5.1.1 直流参数测试通道电路系统  52
    5.1.2 精密测量单元原理  52-53
    5.1.3 直流参数测试通道电路设计指标  53
  5.2 AD5522 功能  53-56
    5.2.1 激励设置  54-55
    5.2.2 测量功能  55
    5.2.3 输出比较功能  55-56
    5.2.4 输出箝位功能  56
  5.3 模数转换器电路  56-57
  5.4 直流参数测试逻辑  57-62
    5.4.1 精密测量单元逻辑  58-59
    5.4.2 模数转换器逻辑  59-62
第六章测试通道电路的实际应用  62-72
  6.1 测试板介绍  62-63
  6.2 测试芯片概述  63-64
  6.3 测试仪的设置  64-71
    6.3.1 开短路测试  64-65
    6.3.2 功能测试  65-67
    6.3.3 IIL 测试  67-68
    6.3.4 IIH 测试  68-69
    6.3.5 VOL 测试  69
    6.3.6 VOH 测试  69-70
    6.3.7 IDD 测试  70-71
  6.4 结果分析  71-72
第七章总结  72-74
致谢  74-75
参考文献  75-77
攻读硕士期间取得的成果  77-78

数字集成电路测试仪测试通道电路设计

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