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超声相控阵可控强度发射系统相关技术的研究
作 者: 王伟
导 师: 骆英
学 校: 江苏大学
专 业: 测试计量技术及仪器
关键词: 超声相控阵 OPCM 相位延时 FPGA DDS
分类号: TH878.2
类 型: 硕士论文
年 份: 2010年
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内容摘要
超声相控阵无损检测技术通过对超声阵列换能器中各阵元进行相位控制,获得灵活可控的合成波束,从而实现高速、全方位和多角度地对机械结构及零部件进行损伤检测。它具有能够进行动态聚焦、可进行成像检测、可以检测复杂形状物体、能提高检测灵敏度、分辨力和信噪比的多项优点,近年来已成为国际无损检测界的研究热点。国内工业领域超声相控阵检测技术尚处在起步阶段,本课题以超声相控阵探伤理论为基础,进行了针对超声相控阵探伤系统中超声相控发射相关技术研究。本文在概述了超声相控阵的发展历史和发展现状后,说明了相控阵超声检测的研究意义以及超声相控阵探伤理论的相关知识,并详细阐述了超声相控阵系统中动态聚焦、相控延时等技术的原理和实现方法。超声波在介质中传播的时候,由于材料阻尼效应的存在,超声波的能量随着传播距离的增加将逐渐衰减,这将严重影响工件的损伤检出率。对此本文提出了利用缺陷的回波信息调整后续驱动器激励信号强度,从而达到缺陷处等强度效果的可控强度激发技术。设计了基于正交异性压电复合材料(OrthotropicPiezoelectric Composite Materials,OPCM)超声相控阵换能器的超声相控阵可控强度驱动系统,包括数字化超声发射波束形成、低噪声的程控放大和信号的高频功放,并对系统进行了初步的实验验证。对各阵元的发射相位延时进行精确控制是形成超声相控阵发射波束的关键环节,在相控发射中,需要精确控制相位延时,从而实现动态聚焦、偏转、声束形成等各种相控效果。理论分析显示,只有尽力提高相位延时的精度、分辨率和稳定性才能显著地抑制旁瓣。本文研究了基于现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,FPGA)的超声相控延时算法和相位延时技术。分析了超声相控阵系统中线性阵列换能器相控偏转、相控聚焦延时算法,并利用DSP技术完成了相控算法的设计并通过仿真实验进行了验证。相控延时部分包括相控发射粗延时和相控发射细延时:相控发射粗延时通常基于系统时钟频率,在66MHz的系统时钟频率下,延时分辨率可达15ns;相控发射细延时利用直接数字合成技术(DDS)的数字化波形发射方式,采用数字波形相位差的方法来实现相位的细调,本系统中相位分辨率为0.35°,对应250kHz发射信号下3.75ns的相位延时。
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全文目录
摘要 5-7 Abstract 7-11 第一章 绪论 11-15 1.1 课题来源 11 1.2 课题背景及研究意义 11-12 1.3 超声相控阵的发展概况 12-14 1.4 主要研究内容 14-15 第二章 超声相控阵探伤理论 15-29 2.1 超声波的声学基础知识 15-18 2.1.1 超声波的波形 15-16 2.1.2 超声场的特征值 16-17 2.1.3 超声波的衰减 17-18 2.2 相控阵技术原理 18-20 2.2.1 相控阵发射 18-19 2.2.2 相控阵接收 19-20 2.3 阵列换能器辐射声场理论 20-23 2.4 动态电子聚焦 23-25 2.4.1 电子聚焦原理 23-24 2.4.2 聚焦声束特性 24-25 2.5 超声相控延时 25-28 2.5.1 相控延时的意义 25 2.5.2 相控延时的方法 25-26 2.5.3 相控延时算法 26-28 2.6 小结 28-29 第三章 超声相控阵可控强度发射系统设计 29-38 3.1 超声相控阵可控强度发射系统的设计 29-31 3.2 OPCM超声换能器 31-32 3.3 可控强度驱动电路的设计 32-36 3.3.1 程控放大模块的设计 32-35 3.3.2 功放模块的设计 35-36 3.4 超声波强度控制算法的分析 36-37 3.5 小结 37-38 第四章 基于FPGA的强度控制算法及延时技术的研究 38-61 4.1 FPGA介绍 38-43 4.1.1 FPGA简介 38-41 4.1.2 Altera公司及Quartus Ⅱ软件介绍 41-42 4.1.3 开发平台介绍 42-43 4.2 基于FPGA超声强度控制算法模块的实现 43-47 4.2.1 超声相控阵强度算法模块的设计 43-44 4.2.2 强度控制参数输入与数据显示模块 44-47 4.3 基于FPGA的相控算法模块的设计 47-48 4.4 基于DDS技术的信号生成模块的设计 48-55 4.4.1 DDS原理介绍 49-51 4.4.2 基于DDS技术信号生成模块的设计 51-55 4.5 基于FPGA相控延时模块的设计 55-60 4.5.1 相控粗延时 56-57 4.5.2 相控细延时 57-60 4.6 小结 60-61 第五章 实验与分析 61-75 5.1 可控强度驱动电路的实验与分析 61-66 5.1.1 概述 61-63 5.1.2 实验过程与分析 63-66 5.2 超声衰减规律的分析 66-72 5.2.1 实验原理 66-67 5.2.2 实验过程与分析 67-72 5.3 基于嵌入式逻辑分析仪的相控延时分析 72-74 5.4 小结 74-75 第六章 总结与展望 75-77 6.1 总结 75-76 6.2 展望 76-77 参考文献 77-81 致谢 81-82 读研期间发表论文 82
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中图分类: > 工业技术 > 机械、仪表工业 > 仪器、仪表 > 材料试验机与试验仪器 > 无损探伤仪器 > 超声波探伤仪
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