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微光像增强器操作寿命测试技术研究

作　者: 潘治云
导　师: 皮德富；李晓峰
学　校: 南京理工大学
专　业: 光学工程
关键词: 微光像增强器操作寿命测试指数拟合微电流测量
分类号: TN144
类　型: 硕士论文
年　份: 2008年
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内容摘要

本文回顾了夜视技术中使用的微光像增强器的发展过程,指出了超二代微光像增强器和一、二代像增强器的主要区别。重点阐述了超二代微光像增强器的操作寿命测试原理和方法;采用回归分析建立操作寿命回归方程,利用最小二乘法,通过指数拟合,把指数方程线性化,得到预测超二代微光像增强器操作寿命的线性回归方程,计算出微光像增强器的预测操作寿命时间。此外还介绍了超二代像增强器操作寿命测试仪的研制过程;微光像增强器的阴极光电流、阴极灵敏度等高压微电流测量、计算;以及实际研制过程中遇到的问题和解决方法。

全文目录

摘要  5-6
Abstract  6-7
目录  7-10
1. 绪论  10-15
  1.1问题的提出和意义  10
  1.2 问题的背景及分析  10-13
    1.2.1 背景  10-11
    1.2.2 要解决的问题  11-12
    1.2.3 意义和效益  12-13
    1.2.4 解决问题的思路和方法  13
  1.3 取得的成果  13-15
2. 微光像增强器的基本原理  15-31
  2.1 微光像增强器典型结构和技术特点  15-26
    2.1.1 零代管  15
    2.1.2 一代管  15-17
    2.1.3 二代管  17-19
    2.1.4 三代管  19-20
    2.1.5 二代半与超二代  20-22
    2.1.6 超二代微光成像技术的发展  22-24
    2.1.7 杂交管  24
    2.1.8 选通管  24-26
  2.2 主要特性参数  26-31
    2.2.1 分类  26-27
    2.2.2 光阴极灵敏度  27
    2.2.3 亮度增益  27-28
    2.2.4 背景等效输入照度  28
    2.2.5 对比度传递特性  28-29
    2.2.6 信噪比传递特性  29-30
    2.2.7 操作寿命试验  30-31
3. 微光像增强器操作寿命的测试原理  31-38
  3.1 像增强器的增益  31-33
  3.2 影响二代像增强器操作寿命的主要因素  33-35
  3.3 超二代微光像增强器的操作寿命规律和操作寿命试验  35-38
4. 一元线性回归和最小二乘法  38-44
  4.1 一元线性回归方程的求解  38-40
  4.2 函数的线性化  40-41
    4.2.1 幂函数的线性化  40-41
    4.2.2 指数函数的线性化  41
  4.3 超二代像增强器操作寿命的回归方程和寿命预测  41-44
5. 操作寿命试验  44-57
  5.1 主要参数的测量方法  44-47
    5.1.1 阴极光电流  44
    5.1.2 白光灵敏度  44-45
    5.1.3 阳极漏电流  45-46
    5.1.4 MCP电流增益  46
    5.1.5 阴极漏电流  46
    5.1.6 MCP体电阻  46-47
    5.1.7 暗电流密度  47
  5.2 微电流测量的方法  47-57
    5.2.1 电路设计中的要考虑的问题  48-52
    5.2.2 微电流测量电路设计  52-57
6. 操作寿命测试仪系统  57-61
  6.1 系统组成  57-59
  6.2 工作原理  59-61
7. 实际测试  61-65
  7.1 操作寿命测量  61-62
  7.2 操作寿命预测  62-63
  7.3 误差分析  63-65
8. 结束语  65-66
致谢  66-68
参考文献  68-69

微光像增强器操作寿命测试技术研究

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