学位论文 > 优秀研究生学位论文题录展示

基于ARM的频率特性分析仪的设计

作　者: 李高斌
导　师: 甘朝晖
学　校: 武汉科技大学
专　业: 控制理论与控制工程
关键词: 频率特性测试仪 DDS 增益相位检测 S3C2440
分类号: TP368.1
类　型: 硕士论文
年　份: 2011年
下　载: 160次
引　用: 1次
阅　读: 论文下载

内容摘要

扫频仪也称频率特性测试仪(Frequency Response Analyzer),它主要用于测试系统的频率特性,在现代电子测量中占有重要的位置。运用正弦扫频激励信号对被测系统进行快速的动态测量,可以得到被测系统的频率特性,该方法具有试验时间短,便于实现等优点。本文将阐述基于高性能DDS芯片AD9850和专用的增益相位检测芯片AD8302的频率特性分析仪的设计。该仪器以DDS芯片AD9850为核心产生扫频信号,以增益相位检测芯片AD8302为核心构成检测电路,以ARM芯片S3C2440为核心控制器实现对被测系统的频率特性的检测。本仪器具有强大的处理能力,方便的数据输入和输出功能,并通过清晰的图形曲线进行显示,能够在短时间内高精度地测量频率响应特性,并且操作极其简单。因此,该仪器可以更好地满足科研和工程设计的需要,具有一定的科研价值。

全文目录

摘要  4-5
Abstract  5-8
第一章绪论  8-11
  1.1 频率特性分析仪研究意义  8
  1.2 国内外研究现状  8-9
  1.3 本文的主要工作及结构安排  9-11
第二章系统总体设计方案  11-15
  2.1 频率特性的测量方法  11-12
  2.2 两种测量方法的比较  12-13
  2.3 数字频率特性分析仪的总体方案设计  13-14
  2.4 本系统的主要技术指标  14-15
第三章扫频信号源的设计  15-27
  3.1 频率合成技术  15-16
  3.2 直接数字频率合成(DDS)技术  16-17
  3.3 信号源设计  17-21
    3.3.1 信号源总体设计方案  17-18
    3.3.2 AD9850 芯片简介  18-19
    3.3.3 AD9850 工作原理  19-21
  3.4 信号调理电路设计  21-27
    3.4.1 低通滤波器电路  21-24
    3.4.2 输出程控衰减电路  24-26
    3.4.3 功率控制电路  26-27
第四章幅值相位检测电路的设计  27-34
  4.1 幅值相位检测电路设计方案  27-28
  4.2 幅值相位检测电路  28-34
    4.2.1 增益相位检测器AD8302  28-30
    4.2.2 信号调理  30-32
    4.2.3 模数转换电路  32-34
第五章控制电路的设计  34-40
  5.1 S3C2440 处理器简介  34
  5.2 控制部分系统框图  34-35
  5.3 控制模块的硬件设计  35-38
    5.3.1 S3C2440 存储器的扩展  35-36
    5.3.2 LCD 电路和触摸电路的设计  36-37
    5.3.3 S3C2440 电源模块设计  37-38
    5.3.4 S3C2440 的JTAG 模块设计  38
  5.4 控制模块软件设计  38-40
第六章系统调试和实验  40-42
  6.1 DDS 扫频信号源测试  40-41
  6.2 幅值检测电路测试  41-42
第七章总结与展望  42-43
  7.1 工作总结  42
  7.2 展望  42-43
参考文献  43-45
致谢  45-46
附录I 攻读学位其间发表的论文  46-47
详细摘要  47-51

基于ARM的频率特性分析仪的设计

内容摘要

全文目录

相似论文