学位论文 > 优秀研究生学位论文题录展示
波前检测技术的研究
作 者: 冯胜
导 师: 吴健
学 校: 电子科技大学
专 业: 光学
关键词: 波前畸变 波面检测 径向剪切干涉 位相重构 振幅重构
分类号: TM935.2
类 型: 硕士论文
年 份: 2009年
下 载: 246次
引 用: 5次
阅 读: 论文下载
内容摘要
径向剪切干涉技术是将待测波面由径向剪切干涉仪分别放大和缩小成不同倍数的两波面后再相互叠加的区域产生干涉条纹,然后通过干涉条纹对波前的相位分布进行检测的一种干涉计量技术。径向剪切干涉技术在系统光路中不需要设置专门的参考光,不仅具有高精度,同时还具有对环境扰动和机械振动不敏感的优点。本文构建了一种简单、紧凑、具有较高测量精度和波面复原能力、适用于动、静态波面检测的径向剪切干涉系统,该系统可以从单幅干涉图同时重构波面位相分布和波面振幅分布,适用于激光波面检测。本文主要的研究工作有:1.论述波前畸变检测的重要意义,并通过激光波面的特点及当前国内外波前检测技术的分析,在分析几种径向剪切干涉仪基础上,对径向剪切干涉系统光路进行了改进,搭建了一台用于动、静态波前畸变检测的径向剪切干涉仪,采集到了较好的干涉图样。并对光路快速调整提出了一些好的方法。2.在对径向剪切波面的特征进行分析的基础上,阐述了波面迭代重构算法的数学模型,根据该数学模型编写了波面相位和振幅的重构算法。通过数值仿真,验证了该算法的正确性和可靠性。3.在CCD自带软件开发包的基础上,开发了CCD的波面检测图像采集软件,该软件可自动读取并保存CCD所采集的干涉图样,具有较好人机对话界面。论文就波前光束特性的高分辨率诊断提供了较完整的数学推理模型、精度较高的检测装置,在相关领域具有广泛的应用前景。
|
全文目录
摘要 4-5 ABSTRACT 5-8 第一章 绪论 8-19 1.1 研究背景 8-16 1.2 论文的主要研究内容 16-19 第二章 径向剪切干涉原理 19-27 2.1 径向剪切干涉技术的光学原理 19-22 2.2 径向剪切干涉仪的类型 22-27 2.2.1 单通径向剪切干涉仪 22-25 2.2.2 双通径向剪切干涉仪 25-27 第三章 波面重构方法 27-38 3.1 径向剪切波面特征 27-30 3.2 剪切波面迭代算法 30-31 3.3 波面位相重构 31-34 3.4 波面振幅重构 34-38 第四章 用于波前检测的径向剪切干涉系统 38-57 4.1 光学系统设计 38-42 4.1.1 光学器件的选择 40-41 4.1.2 调节器件的选择 41-42 4.2 图样采集系统 42-49 4.2.1 CCD 相机 43-44 4.2.2 图像采集软件开发 44-49 4.3 径向剪切干涉仪共光路调节 49-53 4.3.1 共光路逼近调节方法 50-52 4.3.2 4f 系统调节方法 52-53 4.4 试验干涉图样 53-57 第五章 波前检测系统的误差分析 57-68 5.1 波面畸变基本参数 57-59 5.2 系统误差分析 59-68 5.2.1 传输理论 59-61 5.2.2 仿真结果 61-68 第六章 总结与展望 68-70 6.1 论文完成的任务 68 6.2 进一步的工作 68-70 致谢 70-71 参考文献 71-74 攻读硕士期间取得的成果 74-75
|
相似论文
- 基于相位差异法的图像复原技术研究,TP391.41
- 径向剪切干涉测试技术研究,TH744.3
- 大气光通信中波前畸变补偿算法研究,TN929.1
- 阵列光学天线系统优化设计及其性能影响分析,TN929.1
- 径向剪切干涉仪光学系统设计与研究,TH744.3
- 径向剪切干涉波面重构算法研究,TH744.3
- 高功率激光驱动器光束聚焦特性研究,TN249
- 重复频率等离子体电光开关热问题及其控制,TN248.1
- 二极管泵浦固体热容激光器输出激光波前的研究,TN248.1
- 利用循环式径向剪切干涉术研究液晶空间光调制器的位相调制特性,TN252
- 大口径高精度光学元件数控抛光技术研究,TG596
- 近红外脉冲波前畸变的干涉检测及研究,O436.1
- 利用哈特曼传感器测量气动激光器内流场对波前的影响,TN248
- 晶体中的热透镜效应数值模拟,O736
- 自适应光学技术用于改善固体激光器光束质量的研究,TN248
- 波前畸变对星间激光通信链路性能的影响研究,TN929.13
- 基于单模光纤耦合自差探测星间光通信系统接收性能研究,TN929.13
- 激光光束波前畸变的径向剪切干涉诊断及其控制新方法研究,TN241
- 高能激光器自由旋涡气动窗口的工程设计及其相关研究,TN248.5
- 可用于瞬态激光波前畸变实时检测技术的研究,TL632.1
中图分类: > 工业技术 > 电工技术 > 电气测量技术及仪器 > 频率、波形参数的测量及仪表 > 波形参数测量及仪器
© 2012 www.xueweilunwen.com
|