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X波段BST微波介电性能测量及应用

作　者: 伍双杰
导　师: 胡作启
学　校: 华中科技大学
专　业: 微电子学与固体电子学
关键词: 微波测量 BST 器件设计 移相器 ADS
分类号: TN623
类　型: 硕士论文
年　份: 2011年
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内容摘要


随着通信器件的高频化、高速化发展,微波电介质材料在通信领域已经得到了广泛的应用,对高介电常数电介质材料微波性能的准确测量从而使其更好的应用于器件设计越来越受到关注。本论文对高介电常数电介质材料钛酸锶钡（BaxSr1-xTiO3,BST）微波频率（X波段812GHz,中心频率10GHz）介电性能与调谐性能的测试方法进行了设计、分析与改进,并应用改进设计后的方法对BST陶瓷与薄膜样品进行了测试,最终基于测试的参数对微波移相器件进行了设计与制作,并对其性能进行了测试。首先,选择微波谐振法与非谐振法组合测试的方法,主要包括谐振腔微扰法、矩形波导传输法与共面波导法。通过对传统的X波段谐振腔微扰测试法进行了改进,使其适合对高介电常数样品进行介电常数与损耗角的测量;应用矩形波导设计了移相器测试器件,并对其进行了4段1/4波长匹配以减小测试过程中的回波损耗,使测试结果更为准确,且该方法便于施加外压,适合对陶瓷样品进行实介电常数与调谐率进行测量;对共面波导法TRL测试器件进行设计及改进,使得该方法适合对薄膜样品介电性能与调谐率进行测试,并克服了薄膜厚度测量的误差对测试准确性的影响,对溅射电极的薄膜样品进行了光刻,制作出共面波导测试器件并进行了测试。应用上述测试方法组建成高介电常数陶瓷与薄膜样品的微波介电性能与调谐性能的测试方法系统。然后,应用微波网络分析仪组合射频探针平台及相关测试装置对设计制件出的BST基测试器件的微波性能进行测试,从器件的测试结果中推导出BST材料的性能参数,同时进行测试方法的误差分析,确定上述方案的测试误差。最后,基于BST的测试结果,应用ADS软件设计了共面波导加载叉指电容结构的BST薄膜微波移相器,并对其进行了器件制作与性能测试,得出器件移相度为25°/cm,最终总结出了器件对材料的要求及器件的设计改进方向。

全文目录


摘要  4-5
ABSTRACT  5-9
1 绪论  9-22
  1.1 引言  9-10
  1.2 微波测试方法及微波器件设计原理  10-17
  1.3 国内外研究概况  17-20
  1.4 课题的研究意义与内容  20-22
2 BST 介电性能测试方法设计及改进  22-34
  2.1 谐振腔微扰法的改进  22-26
  2.2 矩形波导传输法应用设计  26-29
  2.3 共面波导法测试设计  29-33
  2.4 小结  33-34
3 BST 测试及测试方法误差分析  34-56
  3.1 谐振腔微扰法测试及误差分析  34-40
  3.2 矩形波导传输法测试及误差分析  40-44
  3.3 共面波导法测试及误差分析  44-55
  3.4 小结  55-56
4 BST 共面波导移相器设计  56-67
  4.1 BST 薄膜移相器原理  56-57
  4.2 BST 薄膜移相器ADS 设计  57-63
  4.3 BST 薄膜移相器制作及移相性能测试  63-66
  4.4 器件设计小结  66-67
5 总结与展望  67-69
  5.1 总结  67
  5.2 展望  67-69
致谢  69-70
参考文献  70-76
附录1 硕士期间发表论文  76

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中图分类: > 工业技术 > 无线电电子学、电信技术 > 电子元件、组件 > 微波传输控制元件 > 移相器、铁氧体移相器
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