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铁电薄膜的频率依赖关系研究
作 者: 董广军
导 师: 唐明华
学 校: 湘潭大学
专 业: 微电子学与固体电子学
关键词: CSD BNT BZT-PZT 铁电薄膜 频率依赖关系
分类号: TM221
类 型: 硕士论文
年 份: 2010年
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内容摘要
铁电存储器(FeRAM)与传统的EEPROM和FLASH存储器相比具有操作电压低、功耗低、存储密度大、读写时间短等优点,被认为是最具潜力的存储器之一。铋层状钙钛矿结构铁电薄膜抗疲劳性能好,自发极化大、保持性能好以及无铅化学成分,是取代铅基材料成为新的铁电存储器首选材料。制备高性能的薄膜是进行铁电存储器研究设计的基础,本文首先对铋层状钙钛矿结构薄膜制备工艺进行分析,同时对其频率依赖关系进行探索。本文采用化学溶液沉积法(CSD)在Pt/Ti/SiO2/Si基片上沉积制备Bi3.15Nd0.85Ti3O12 (BNT)铁电薄膜。利用X射线衍射分析仪(XRD)、电子扫描显微镜(SEM)对样品进行晶体结构和形貌分析。分析结果表明BNT薄膜具有典型的铋层状钙钛矿结构,呈现(00l)、(117)混合结晶取向,由大小为100 nm-500 nm的晶粒组成,样品表面光滑无裂纹,厚约600 nm。然后对BNT薄膜进行电滞回线(P-E)、电流-电压特性(I-V)测量,结果表明BNT薄膜具有良好的铁电性能,最大剩余极化Pr为22μC/cm2,且漏电流小于10-8 A (外加电压5 V)。利用铁电分析仪研究了不同退火条件、不同的Nd离子掺杂比例等工艺条件对BNT薄膜铁电性能的影响。通过对不同掺杂比例的薄膜电滞回线进行分析,发现当Nd离子的掺杂浓度为0.85时BNT薄膜具有最好的铁电性,在外加电场300 kV/cm时最大极化值(Pmax)达到41μC/cm2。分析了在不同的退火环境中制备的BNT薄膜的电滞回线,表明氧气中退火的薄膜性能优于氮气退火的薄膜;在不同温度退火制备的BNT薄膜电滞回线表明,在750°C下退火制备的BNT薄膜具有最大的剩余极化值,矩形度最好。通过改变测试频率,分别对BNT和[Bi(Zn0.5,Ti0.5)O3]0.03[Pb(Zr0.4,Ti0.6)O3]0.97 (BZT-PZT)薄膜的频率依赖关系进行分析。结果表明两种薄膜电滞回线具有很强的频率依赖性,随着测试频率的增加,电滞回线呈现内缩的趋势。在两种不同的薄膜中,剩余极化都随测试频率的增加而减小;在两种薄膜中,矫顽场在频率小于5 kHz时受频率影响不大,但在BZT-PZT中当频率大于5 kHz时,矫顽场迅速增大。铁电薄膜电畴翻转是表现电滞回性的根本原因,可以用电畴的翻转来解释频率依赖关系。电畴在电场作用下翻转,电场翻转周期减小,薄膜内部电畴的翻转受到影响,表现为频率依赖关系。
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全文目录
摘要 4-5 Abstract 5-9 第1章 绪论 9-20 1.1 铁电材料 9-11 1.1.1 铁电材料简介 9-10 1.1.2 铁电材料的分类 10-11 1.2 铁电薄膜 11-15 1.2.1 铁电薄膜的发展历史 12 1.2.2 铁电薄膜性能及应用 12-13 1.2.3 铁电薄膜制备方法 13-15 1.3 铁电存储器(FeRAM) 15-17 1.3.1 铁电存储器概况 15-16 1.3.2 铁电存储器的发展 16-17 1.4 频率依赖关系 17-18 1.5 选题背景及研究内容 18-20 第2章 BNT 铁电薄膜的 CSD 法制备 20-31 2.1 化学溶液沉积法(CSD) 20-21 2.1.1 CSD 法简介 20-21 2.1.2 CSD 法基本原理 21 2.2 实验设备 21-23 2.3 实验材料 23-24 2.3.1 实验器材 23 2.3.2 实验所需药品 23 2.3.3 衬底基片 23-24 2.4 制备工艺 24-26 2.4.1 前期准备工作 24 2.4.2 配制前驱溶液 24-25 2.4.3 薄膜制备 25-26 2.5 薄膜测试与分析方法 26-30 2.5.1 X 射线衍射分析(XRD) 26-27 2.5.2 扫描电子显微镜(SEM) 27-28 2.5.3 电学性能分析 28-30 2.6 小结 30-31 第3章 BNT 薄膜微结构与铁电性分析 31-41 3.1 BNT 薄膜结构分析 31-32 3.2 BNT 薄膜SEM 形貌分析 32-34 3.3 BNT 薄膜电学性能 34-36 3.3.1 I-V 曲线 34-35 3.3.2 P-V 曲线 35-36 3.4 掺杂比例对BNT 薄膜铁电性能影响 36-37 3.5 退火环境对BNT 薄膜铁电性能影响 37-39 3.5.1 不同退火气氛对BNT 铁电性能的影响 38 3.5.2 不同退火温度对BNT 铁电性能的影响 38-39 3.6 小结 39-41 第4章 铁电薄膜的频率依赖关系 41-49 4.1 频率依赖关系 41-43 4.1.1 频率依赖关系研究现状 41-42 4.1.2 基于电滞回线模型的频率依赖关系研究 42-43 4.2 BNT 薄膜频率依赖特性 43-44 4.3 BZT-PZT 薄膜频率依赖特性 44-48 4.4 小结 48-49 第5章 工作总结与展望 49-51 5.1 论文总结 49 5.2 工作展望 49-51 参考文献 51-56 致谢 56-57 攻读硕士学位期间发表的论文和专利 57
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中图分类: > 工业技术 > 电工技术 > 电工材料 > 强性介质和压电介质 > 铁电体、铁电晶体
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