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成像式偏振测量的关键问题研究
作 者: 张鹏
导 师: 杨建义;李宇波
学 校: 浙江大学
专 业: 微电子学与固体电子学
关键词: 偏振测量 Stokes矢量 Mueller矩阵 液晶调制器
分类号: O439
类 型: 硕士论文
年 份: 2012年
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内容摘要
偏振作为光的基本属性之一,其中蕴含着被测物的众多特征信息,因此在光学测量领域,偏振检测是一种不可忽视的基本测量手段,在目标识别、生物医学、地物遥感以及天文、机器视觉、军事等领域都有重要应用。由于人眼无法直接感知光的偏振信息,如何建立快速、高精度的偏振测量装置,是国内外的研究热点之一。本文主要研究了成像式的偏振测量系统中,在装置建立和测量结果分析及应用等方面的关键问题。在理论上,根据所采用的液晶和双CCD的测量结构,经推导和计算,提出了四次调制的全Stokes矢量测量方案,该方案所需的计算复杂度低,利于程序编写和处理。在测量装置建立中,研制了一个具有像素级匹配精度的双CCD模块,在此模块基础上,搭建了以DSP处理器为控制核心的全Stokes矢量测量装置,以及应用于显微镜的Mueller矩阵图像测量系统。在对偏振测量结果的分析中,重点讨论了由Stokes参数计算得到的各种偏振相关图像,如偏振度、偏振角、椭圆率角等参数,研究了偏振信息在被测物识别和测量中的意义。文章还对偏振测量系统进行了定标测试和误差来源分析,并在此基础上对测量结果进行修正,实现了较高的测量精度。本文研究的内容为偏振测量方法的实用化提出了可靠的技术方案。
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全文目录
致谢 4-5 摘要 5-6 Abstract 6-7 目次 7-9 1 绪论 9-20 1.1 引言 9-10 1.2 基于矩阵的偏振光描述方式 10-12 1.3 成像式偏振测量的应用及研究现状 12-18 1.3.1 目标检测 13 1.3.2 生物医学 13-14 1.3.3 地物遥感 14 1.3.4 大气和天文研究 14-15 1.3.5 材料学、介质性质和表面性质研究 15-16 1.3.6 计算机视觉 16 1.3.7 军事应用 16 1.3.8 偏振成像测量的发展趋势 16-18 1.4 论文的主要内容与结构安排 18-20 2 成像式偏振测量方案 20-35 2.1 基于单液晶和双CCD的全Stokes矢量成像测量 20-29 2.1.1 液晶特性与装置结构 20-21 2.1.2 调制方法的理论推导 21-24 2.1.3 棱镜与双CCD的封装方法 24-26 2.1.4 DSP软件流程及优化 26-29 2.2 基于分立偏振元件的Stokes图像测量 29-32 2.3 基于单液晶和双CCD的Mueller矩阵图像测量 32-34 2.4 小结 34-35 3 偏振图像测量结果与应用分析 35-49 3.1 偏振度图像 35-40 3.2 偏振角图像 40-42 3.3 椭圆率角图像 42-44 3.4 去偏振图像 44-45 3.5 偏振参数的非线性映射 45-48 3.6 小结 48-49 4 成像式偏振测量装置定标和误差分析 49-61 4.1 成像式偏振测量装置定标方法 49-50 4.2 对线偏振光的定量测量 50-51 4.3 对圆偏振光的定量测量 51-53 4.4 测量误差来源分析 53-59 4.4.1 系统封装固定时角度误差 53-55 4.4.2 液晶调制器的相位调制误差 55-57 4.4.3 偏振元件的非理想性 57-58 4.4.4 CCD响应的线性度 58-59 4.5 小结 59-61 5 总结与展望 61-63 5.1 总结 61 5.2 展望 61-63 参考文献 63-70 作者简历及在学期间所取得的科研成果 70
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中图分类: > 数理科学和化学 > 物理学 > 光学 > 应用光学
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