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仪器自检技术的研究和实现

作　者: 李小波
导　师: 王健
学　校: 杭州电子科技大学
专　业: 电路与系统
关键词: 自检技术分析仪器主机电路自检存储器自检输入输出通道自检
分类号: TH707
类　型: 硕士论文
年　份: 2010年
下　载: 86次
引　用: 1次
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内容摘要

本论文以对分析仪器的研究为背景,以提高分析仪器的自检能力为主要目标,详细讨论了分析仪器中各个主要功能模块的自检设计方法。随着计算机技术的飞速发展和大规模集成电路的广泛应用,仪器在改善和提高自身性能的同时,也大大增加了系统的复杂性。这就给仪器的自检带来了诸多问题,如自检时间长,故障诊断困难、使用维护费用高等,仪器的自检设计逐渐引起了人们的高度重视。自检的目的主要是为了提高系统的可靠性,而可靠性是衡量产品质量的一个重要指标。随着科技的发展,在一些高科技领域特别是国防、航空等领域,可靠性得到越来越多的重视。如前苏联的切尔诺贝利核电站泄露,美国“挑战号”航天飞机失事等不可靠性事件的发生,使我们越来越多地意识到产品可靠性的重要。根据哲学的理论,解决问题时要抓住事物的主要矛盾。因此,要提高系统的可靠性就必须提高系统的自检能力。自20世纪80年代以来,自检技术在国外得到了飞速发展,研究人员开展了大量的系统测试和诊断问题的研究,测试性逐步形成了一门与可靠性、维修性并行发展的学科分支。由于各种原因,我国对自检技术的研究起步较晚,但发展迅速。但是,从总体水平来看,我国自检技术的水平与世界先进国家相比还有一定的差距。不过值得欣慰的是,随着我国对自检技术的重视,将会逐步减小和国外的差距。目前国内外的论文对自检技术的研究主要是针对仪器的某一个模块,如RAM、ROM、输入输出通道等,这些论文很多只是理论,有些并没有在实践中加以应用,而且这些论文也没有完整的对一台仪器的各个主要部分进行研究过。本论文则独辟蹊径,力求对分析仪器的各个主要模块进行研究,并把所研究的自检方法应用到仪器中,做到理论联系实际,从而使仪器可以及时、快速、准确地检测与隔离故障,提高执行任务的可靠性与安全性,缩短故障检测与隔离时间,进而减少维修时间,提高系统的可用性,降低系统的使用维护费用。本论文是目前自检自诊断研究领域的一个重大突破,对以后自检自诊断的研究有一定的指导作用。因此,本论文具有非常重要的研究价值。

仪器自检技术的研究和实现

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