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中频段干涉仪关键技术研究
作 者: 季荣
导 师: 朱日宏
学 校: 南京理工大学
专 业: 光学工程
关键词: 干涉检测 高分辨率干涉仪 中频误差 功率谱密度 系统传递函数
分类号: TH744.3
类 型: 硕士论文
年 份: 2014年
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内容摘要
随着强激光、空间光学等领域的发展,系统对光学元件表面质量的要求越来越高,对中频段表面误差的检测受到了广泛地重视,传统的面形误差评价方法已不能满足要求。目前能检测到光学元件的中频段误差的干涉仪相对较少,给光学元件的加工制造带来了困难。因此,本文开展了中频段检测和高分辨率干涉仪关键技术的研究。本文分析了不同频段误差的检测和评价方法,深入研究了中频段评价指标功率谱密度PSD (Power Spectral Density)的定义及其数值计算方法;对测量和计算PSD过程中的采样密度和可测得的频率范围的关系进行了分析讨论,研究了PSD测量的有效频率宽度。研究了高分辨率PSD干涉仪的基本结构和工作原理,设计了Φ15mm的PSD干涉仪系统,包括光纤导出式光源、准直物镜、光阑、成像镜和CCD采集系统等各个组成部分,并完成了干涉仪的集成装调和测试;分析了干涉仪系统中偏振分光棱镜、准直物镜和CCD保护玻璃产生的相干噪声对干涉图结果影响。研究了干涉仪系统传递函数的标定方法,实验采用了台阶相位比较法完成了PSD干涉仪系统传递函数的标定;实验结果表明,PSD干涉仪在空间频率小于8.3mm-1处的系统传递函数为0.75,达到中频段检测的设计要求。
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全文目录
摘要 3-4 Abstract 4-7 1 绪论 7-12 1.1 课题研究背景 7 1.2 中频段误差检测的应用 7-9 1.2.1 高功率固体激光装置 7-8 1.2.2 空间光学 8 1.2.3 紫外光刻 8-9 1.2.4 超精密光学加工 9 1.3 中频段误差检测的发展概况 9-10 1.4 本文主要研究内容 10-12 2 功率谱密度PSD检测技术 12-23 2.1 光学元件表面误差的划分和评价 12-15 2.1.1 面形误差的划分 12-13 2.1.2 常用的评价指标 13-15 2.2 功率谱密度的定义 15-16 2.3 功率谱密度的计算 16-19 2.3.1 PSD的数值计算 16-17 2.3.2 一维PSD与二维PSD 17-18 2.3.3 平均PSD的计算 18-19 2.4 采样密度与PSD有效频率范围 19-22 2.4.1 采样后可测的频率范围 19-21 2.4.2 PSD测量的有效范围 21-22 2.5 本章小结 22-23 3 PSD干涉仪的设计 23-41 3.1 系统总体设计 23-25 3.1.1 系统总体方案 23-24 3.1.2 PSD干涉仪工作流程 24 3.1.3 PSD干涉仪总体结构设计 24-25 3.1.4 PSD干涉仪总体要求 25 3.2 菲索波长调谐移相干涉仪 25-27 3.2.1 干涉仪结构和原理 25-26 3.2.2 波长调谐移相原理 26-27 3.3 PSD干涉仪系统设计 27-35 3.3.1 激光光源 27-29 3.3.2 准直物镜 29-31 3.3.3 标准参考平面镜 31-32 3.3.4 光阑 32-33 3.3.5 成像镜 33-34 3.3.6 采集系统 34-35 3.4 系统相干噪声分析 35-39 3.4.1 偏振分光棱镜 35-36 3.4.2 四分之一波片 36-37 3.4.3 准直透镜 37-38 3.4.4 CCD保护玻璃 38-39 3.5 系统的装调和测试 39-40 3.6 本章小结 40-41 4 干涉仪系统传递函数测试 41-50 4.1 系统传递函数的定义 41-42 4.2 干涉仪系统传递函数的测试方法 42-45 4.2.1 正弦相位光栅法 42-43 4.2.2 台阶相位比较法 43-45 4.3 标定PSD干涉仪系统传递函数 45-48 4.3.1 标准台阶板 45 4.3.2 实验和结果 45-48 4.4 误差分析 48-49 4.5 本章小结 49-50 5 总结 50-51 致谢 51 参考文献 51-56 附录 56
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中图分类: > 工业技术 > 机械、仪表工业 > 仪器、仪表 > 光学仪器 > 物理光学仪器 > 干涉仪
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