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存储器测试方法的研究与测试程序的实现

作　者: 雷静
导　师: 闵帆；张建宁
学　校: 电子科技大学
专　业: 计算机应用工程
关键词: 存储器工作原理测试算法适配器
分类号: TP333
类　型: 硕士论文
年　份: 2009年
下　载: 108次
引　用: 1次
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内容摘要

超深亚微米等技术的应用使得电路的集成度日益增高,大规模数字集成电路的测试难度越来越大,芯片测试尤其是存储器的测试遇到了前所未有的挑战,已经成为制约整个行业发展的瓶颈。随着人们对元器件可靠性的日益重视,国内很多从事电子行业的单位都配备了集成电路及其它电子元器件的测试系统。但从国外引进的大型测试系统,往往存在测试程序少、测试适配器单一等问题,各单位缺乏既了解设备又熟悉器件的技术人员,导致设备利用率不高。本论文主要针对实际工作中存储器在测试应用方面遇到的问题,提出解决办法。首先,介绍了存储器、测试系统及测试技术的发展与趋势。论述了存储器的工作原理、故障模式以及故障模型,然后研究了存储器的测试方法,产生测试图形的测试算法,并按照图形的长度进行了分类研究。这些算法复杂程度不同,故障覆盖率也不同,在实际应用中可以适当选取。接着还对存储器内建自测试技术(BIST)进行了展望,基于BIST的测试技术的发展和完善是VLSI制造业面临的一项重要课题。最后,针对现有测试系统存在的软、硬件问题,我们结合测试理论研究,探讨解决方案,并把测试理论应用到现有集成电路测试系统中,进行测试程序开发,并设计开发了相应的测试适配器,解决了工程应用急需的存储器的测试难题。经过实验对比与验证,开发的测试程序及适配器运行可靠,测试状况良好,测试误差均在设备允许误差范围内,解决了工程应用中的难题,取得良好的科研与经济效益。

全文目录

摘要  4-5
Abstract  5-8
第一章绪论  8-19
  1.1 课题研究的目的和意义  8-10
    1.1.1 课题研究的目的  8-9
    1.1.2 课题研究的意义  9-10
  1.2 存储器及其测试系统的发展趋势  10-14
    1.2.1 存储器的分类  10-11
    1.2.2 存储器的发展  11-13
    1.2.3 集成电路测试系统的发展  13-14
  1.3 测试技术的发展趋势与面临的挑战  14-16
    1.3.1 测试技术的发展趋势  14-15
    1.3.2 测试技术面临的挑战  15-16
  1.4 课题的主要工作  16-19
    1.4.1 工作中面临的问题  16-17
    1.4.2 课题任务  17
    1.4.3 本论文主要内容  17-19
第二章存储器测试基本原理  19-39
  2.1 存储器的工作原理  19-24
    2.1.1 ROM 型存储器工作原理  19-20
    2.1.2 RAM 型存储器工作原理  20-24
  2.2 存储器的故障模式  24-28
    2.2.1 硬失效  24-26
    2.2.2 软失效  26
    2.2.3 潜失效  26
    2.2.4 故障模型  26-28
  2.3 几种故障模式的测试要求  28-29
  2.4 存储器的测试原理  29-38
    2.4.1 存储器测试类型  29-30
    2.4.2 存储器测试的主要方法  30-33
    2.4.3 存储器的测试算法  33-38
  2.5 本章小结  38-39
第三章存储器测试的工程实现  39-64
  3.1 存储器测试程序的实现  39-57
    3.1.1 测试程序开发的准备工作  39-43
    3.1.2 测试程序实现的流程图  43-47
    3.1.3 测试程序的具体实现  47-56
    3.1.4 测试程序的完成  56-57
  3.2 存储器测试的硬件实现  57-58
    3.2.1 硬件的主要问题  57
    3.2.2 硬件设计的主要原理  57-58
    3.2.3 硬件设计的完成  58
  3.3 测试结果与验证  58-63
    3.3.1 测试情况  58-62
    3.3.2 测试验证  62-63
  3.4 本章小结  63-64
第四章总结  64-65
致谢  65-66
参考文献  66-68
在学期间的研究成果  68-69

存储器测试方法的研究与测试程序的实现

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