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固体电介质薄膜、薄片复介电常数的测量研究

作　者: 吴静静
导　师: 延波
学　校: 电子科技大学
专　业: 电磁场与微波技术
关键词: 圆柱谐振腔复介电常数测量垫片薄膜
分类号: TM215
类　型: 硕士论文
年　份: 2007年
下　载: 262次
引　用: 3次
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内容摘要

随着微波电路的工作频率不断提高,体积越来越小,对于薄片状介质基片的需求日益增长,在这些应用中都必须准确地知道介质材料的微波特性。因此,固体电介质薄膜、薄片复介电常数的测量有着很重要的实际意义。本文主要对低损耗薄膜电介质材料复介电常数的测试进行系统的研究。在前人研究的基础上,改进了传统的高Q圆柱谐振腔测量方法,用抬高样品的高Q谐振腔法测量薄膜电介质材料的复介电常数。在此基础上建立了一套X波段自动化测量系统,由矢量网络分析仪内部计算机控制矢网对圆柱谐振腔进行变频测量,根据测量到的加载介质前后圆柱谐振腔的谐振频率和品质因数,自动计算出被测材料的相对介电常数εr’和损耗角正切tanδ。本课题的主要工作包括:1.通过对国内外相关测量技术的分析,根据实际情况,采用谐振腔法进行测量;分析了谐振腔的基本理论;利用合适的垫片材料抬高样品,把样品置于腔中电场较强处,建立了抬高样品的高Q谐振腔法测试的理论模型;推导出电介质薄膜复介电常数的计算公式。2.分析系统的可行性,对系统的各个部件进行分析;组建X波段测试系统;用VC++编写了测试软件,实现自动控制。3.用软件控制测试系统对样品在X波段进行测试,并且对测试结果进行误差分析。结果表明,本研究的理论分析正确,测量系统准确。因此,本文提出的用抬高样品的高Q谐振腔测量薄膜电介质材料复介电常数的技术可对多种薄膜电介质材料的复介电常数进行快速、可靠、自动化的测量,具有肯定的实用性。

全文目录

摘要  4-5
Abstract  5-8
第一章绪论  8-13
  1.1 电介质的复介电常数  8-9
  1.2 电介质复介电常数测量方法简介  9
  1.3 薄膜电介质复介电常数测量方法简介  9-11
  1.4 本文研究内容  11
  1.5 论文结构  11-13
第二章圆柱谐振腔的基本理论  13-18
  2.1 圆柱谐振腔中的场分布  13-15
  2.2 圆柱谐振腔的基本参数  15-16
  2.3 圆柱谐振腔的模式  16
  2.4 本章小结  16-18
第三章薄膜电介质复介电常数的测试原理  18-26
  3.1 相对介电常数ε'_r 的求解  19-21
  3.2 损耗角正切tan δ的求解  21-24
  3.3 品质因数的测量  24-25
  3.4 本章小结  25-26
第四章自动化测试系统  26-38
  4.1 TE 型高Q 谐振腔的设计  26-29
  4.2 垫片的选择  29-30
  4.3 系统设计  30-32
  4.4 测量步骤与方法  32-37
  4.5 本章小结  37-38
第五章测量结果及误差分析  38-44
  5.1 测量结果  38-40
  5.2 误差分析  40-43
  5.3 本章小结  43-44
第六章结论  44-45
致谢  45-46
参考文献  46-74
在学期间的研究成果  74-75

固体电介质薄膜、薄片复介电常数的测量研究

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